本文關(guān)鍵詞：基于XFDTD評估雷電對計算機內(nèi)部電磁環(huán)境的影響

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【摘要】：用XFDTD軟件模擬計算了雷電電場強度為50 k V、上升沿約為4μs、脈寬為20μs的雷電電磁脈沖與計算機耦合后,在計算機機箱內(nèi)幾個典型位置處的耦合電場強度和能量密度隨時間變化的曲線,并分析了計算機內(nèi)部不同位置處的屏蔽效能。耦合產(chǎn)生的能量密度與對計算機系統(tǒng)造成損害的電磁脈沖功率密度的閾值相比可知,機箱內(nèi)耦合產(chǎn)生的能量不影響計算機的正常工作,但在孔洞處耦合產(chǎn)生的能量很大。
【作者單位】： 北京信息科技大學(xué);
【關(guān)鍵詞】： 計算機 耦合 雷電電磁場 能量密度曲線
【基金】：國家自然科學(xué)基金項目(No.41375012) 北京市自然科學(xué)基金項目(No.KZ201411232037)
【分類號】：TP303
【正文快照】： 引言 如果雷電流出現(xiàn)在距計算機較近的地方,雷電電磁場會通過計算機的各類孔縫耦合到機箱內(nèi)部,在芯片和元器件上感應(yīng)出感應(yīng)電流,可能導(dǎo)致電路邏輯功能紊亂,產(chǎn)生錯誤代碼訊息,致使記憶信息被抹掉、運行中止等軟損傷,甚至可能毀傷整個計算機節(jié)點,使計算機產(chǎn)生硬損傷。 本文以，

本文編號：852652