【摘要】： 在半導(dǎo)體器件中,閃存存儲(chǔ)器已經(jīng)滲透到我們生活的各個(gè)方面。然而隨著器件尺寸的持續(xù)減小,閃存存儲(chǔ)器自身存在的一種缺陷——隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲(RTS)就會(huì)明顯的表現(xiàn)出來(lái),甚至?xí)绊懙轿覀冏x取信息的正確性。論文旨在研究隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲的產(chǎn)生原理,通過(guò)實(shí)驗(yàn)從量的角度將隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲表示出來(lái),測(cè)出其大小,找出其特性,也研究了外界條件對(duì)隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲的影響。 本文通過(guò)對(duì)閃存存儲(chǔ)器的基本結(jié)構(gòu)以及工作原理的研究來(lái)分析隨機(jī)電報(bào)噪聲的產(chǎn)生原理;通過(guò)隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲的幅度和隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲幅度的快速傅立葉轉(zhuǎn)換1/f噪聲來(lái)研究隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲。隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲幅度可以通過(guò)漏極電流擾動(dòng)或者門(mén)極電壓變化來(lái)表示,然后將其結(jié)果進(jìn)行快速傅立葉轉(zhuǎn)換就可以得到我們所需要的1/f噪聲。 本文主要運(yùn)用LabVIEW編程軟件根據(jù)需要來(lái)編譯若干個(gè)子程序,從而控制半導(dǎo)體參數(shù)分析器,利用半導(dǎo)體參數(shù)分析器來(lái)配置閃存存儲(chǔ)器各個(gè)極點(diǎn)的電壓,并進(jìn)行漏極電流和門(mén)極電壓擾動(dòng)的測(cè)量。通過(guò)大量實(shí)驗(yàn)研究,獲得了用漏極電流和門(mén)極電壓擾動(dòng)表示的隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲幅度的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,并與理論結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比分析。本文還研究了不同溝道長(zhǎng)度的閃存存儲(chǔ)器以及不同寫(xiě)入/擦除次數(shù)的閃存存儲(chǔ)器對(duì)隨機(jī)電報(bào)信號(hào)噪聲的影響,實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論相符。
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2009
【分類號(hào)】：TP333.2

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本文編號(hào)：2750109