【摘要】： 隨著深亞微米VLSI技術的發(fā)展,存儲器密度的增長使存儲器的測試面臨著更大的挑戰(zhàn)。而隨著半導體工藝尺寸不斷縮小,存儲器可能存在的故障類型越來越多,使得測試時間和測試成本都急劇增長。因此,存儲器測試方法的研究日益受到重視。在可以接受的測試費用和測試時間的限制下,準確的故障模型和有效的測試算法是至關重要的,存儲器測試算法的選擇以及測試的實現(xiàn)方法是存儲器測試的關鍵。 本文介紹了存儲器測試的應用現(xiàn)狀,目前對于存儲器的測試方法,總結了存儲器傳統(tǒng)的故障模型和內存測試算法,詳細分析了March算法的優(yōu)勢、演變及各改進算法的特點。 雖然PC產品的各部件在進入電腦工廠前產品都有經過測試,PC產品的一些主要部件在客戶使用后故障率仍然是居高不下的,因此PC產品的整機測試包括存儲器的測試仍然是非常必要的。而隨著存儲器容量的增大,測試時間正日益成為測試過程中不可忽視的瓶頸。 針對這一情況,本文以March測試算法為基礎,設計出一種改進型March算法——March-TBL算法,該算法在故障覆蓋率不變的情況下,大大減少了測試時間。原有的March算法中很多操作步都是為了區(qū)別出不同的故障類型,而在計算機整機的產品測試中,對存儲器的測試要求是故障覆蓋率較高的同時測試時間盡量縮短,對于區(qū)別不同的故障則不做要求。因此可以通過縮減這一部分的測試達到優(yōu)化的目的。本文最后設計并實現(xiàn)一個基于該改進型算法的內存檢測原型程序,對所設計的內存檢測原型程序的結構進行了介紹,列出了其設計和運行效果,用以驗證該算法的有效性。 最后,本文在總結和展望中指出,將存儲器內建自測試(MBIST)應用于PC機所有類型的存儲器上,是將來存儲器測試優(yōu)化的努力方向,這樣可以顯著減少存儲器的測試時間,從而大量節(jié)省測試成本。
【圖文】：

內存、CPU、顯示卡、聲卡、主機板、硬盤驅動器、光驅等。雖然PC產品的各種部件在進入電腦工廠前供應商都有經過嚴格測試的，PC產品的一些主要部件在客戶使用后故障率仍然是居高不下的。圖2.1一2.3是某品牌PC產品臺式機、筆記本、服務器在2008年6月至10月客戶反饋的按部件排序的故障分布圖。 lllll;.。.。。。.、，，/一 一...2{M如.6畫2儀卜.了口2工洲用.8口2以州，勻國2誼加用 .1000圖2.1臺式機配件客戶故障分布圖

圖2.2筆記本配件客戶故障分布圖iiiiii。、�！甴a灘‘‘...2的民6.2的已‘7口2的氏包口加能.勺.2閱民轟OOO圖2.3服務器配件客戶故障分布圖
【學位授予單位】：廈門大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2008
【分類號】：TP333

【引證文獻】

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1 朱琪峰;基于ADVANTEST的混合測試平臺開發(fā)[D];上海交通大學;2011年

本文編號：2600747