本文關(guān)鍵詞： 單粒子效應(yīng) 微處理器 單粒子功能錯誤 單粒子翻轉(zhuǎn)　出處：《微電子學(xué)與計算機(jī)》2014年07期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：對一款國產(chǎn)抗輻射加固SPARC-V8微處理器進(jìn)行了高低速兩種模式下的單粒子試驗.試驗獲得了單粒子功能中斷的閾值和飽和錯誤截面,并預(yù)估了GEO軌道在軌錯誤率.經(jīng)過比較分析,國產(chǎn)微處理器與國外同類產(chǎn)品具有相同量級的抗單粒子指標(biāo),微處理器在開CACHE的高速模式下抗單粒子能力優(yōu)于低速模式約2倍.
[Abstract]:In this paper, a single particle test of a home-made radiation-resistant SPARC-V8 microprocessor is carried out in two modes: high and low speed. The threshold of single particle function interruption and saturation error cross section are obtained, and the error rate of GEO orbit is estimated. The domestic microprocessors have the same order of magnitude anti-single particle index as the foreign products. The anti-single particle capability of the microprocessors in the high speed mode of open CACHE is about 2 times better than that in the low speed mode.
【作者單位】： 北京微電子技術(shù)研究所;
【分類號】：TP332

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前4條

1 仉俊峰;洪炳昒;喬永強;;基于軟件方法故障注入系統(tǒng)[J];哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報;2006年06期

2 趙廣燕;孫宇鋒;康銳;吳躍;;電路故障仿真中的故障建模、注入及判定方法研究[J];微電子學(xué)與計算機(jī);2007年01期

3 段青亞;黃士坦;辛明瑞;;空間單粒子故障容錯設(shè)計的驗證技術(shù)研究[J];微電子學(xué)與計算機(jī);2007年11期

4 郭紅霞,張義門,陳雨生,周輝,肖偉堅,龔仁喜,賀朝會,龔建成;MOSFET單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的二維數(shù)值模擬[J];西安電子科技大學(xué)學(xué)報;2002年04期

【共引文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前10條

1 呂金和;;軟件安全性測試研究[J];計算機(jī)安全;2010年08期

2 王青麾;王魁;;基于PSpice的電路故障注入仿真分析方法研究[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗;2011年02期

3 嚴(yán)平;;無人機(jī)飛行控制系統(tǒng)軟件故障注入方法研究[J];儀器儀表用戶;2013年03期

4 姜韜;鐘海川;史丹陽;;自動控制故障注入設(shè)備的設(shè)計與實現(xiàn)分析[J];電子制作;2013年11期

5 孫野;陳暉照;;TMR+Scrubbing SRAM加固型FPGA輻照實驗研究[J];電子科技;2013年10期

6 孫野;房志剛;陳暉照;黃維;張舉;;單粒子效應(yīng)加固及仿真驗證技術(shù)研究[J];電子科技;2013年11期

7 劉春志;杜鑫;曾晨暉;;電路功能可靠性仿真分析技術(shù)[J];航天器環(huán)境工程;2009年03期

8 閆穎良;王平;徐香;;基于orCAD PSpice的電路故障建模方法研究[J];計算機(jī)測量與控制;2009年02期

9 溫東新;王雪嬌;張展;錢軍;張中兆;崔忠強;;海量下的分布式文件系統(tǒng)測試平臺設(shè)計與實現(xiàn)[J];哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報;2012年11期

10 劉萌萌;李t，

本文編號：1556083