以泄漏量最小為優(yōu)化目標(biāo)開展高低齒迷宮密封的多參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)研究,建立高低齒迷宮密封幾何參數(shù)化模型與二階響應(yīng)面模型,并應(yīng)用多島遺傳算法進(jìn)行尋優(yōu)計(jì)算。結(jié)果表明:高低齒迷宮密封二階響應(yīng)面模型的R²為0.962 71,可有效降低優(yōu)化計(jì)算量;由多島遺傳算法獲得了一組最優(yōu)結(jié)構(gòu)參數(shù),與CFD計(jì)算結(jié)果相符,所得泄漏量誤差約為6.8%;密封齒數(shù)、凸臺高度和凸臺的位置對高低齒迷宮密封泄漏特性影響較大,且存在最佳值,是高低齒迷宮密封設(shè)計(jì)與改造的關(guān)鍵幾何參數(shù)。

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
1 多參數(shù)優(yōu)化方法
    1.1 密封結(jié)構(gòu)參數(shù)化
    1.2 取樣
    1.3 CFD方法及其驗(yàn)證
    1.4 二階響應(yīng)面模型
    1.5 多島遺傳算法優(yōu)化
2 結(jié)果與分析
    2.1 優(yōu)化結(jié)果及分析
    2.2 幾何優(yōu)化參數(shù)對密封泄漏特性的影響
3 結(jié) 論



本文編號：3794607