印刷電路板(printed circuit board,PCB)易受到靜電放電的危害,繼而影響電子產(chǎn)品的正常使用。為了獲得PCB的靜電放電能量耦合規(guī)律,對(duì)簡化的PCB進(jìn)行靜電放電測試。通過對(duì)PCB軌線上的耦合電壓的測量,研究了放電位置、軌線特性及放電電壓對(duì)靜電放電電磁場耦合的影響。測試結(jié)果表明,放電位置、軌線寬度、長度和端接電阻會(huì)影響耦合電壓的大小和變化趨勢,放電電壓和耦合電壓呈現(xiàn)良好的線性關(guān)系。同時(shí),根據(jù)在電磁仿真軟件(compilation simulation technology microwave studio,CST-MWS)中建立的全波模型,從仿真的角度進(jìn)一步論證了測試結(jié)果。研究結(jié)果對(duì)PCB電磁兼容設(shè)計(jì)具有一定指導(dǎo)意義。

【文章頁數(shù)】：9 頁

【文章目錄】：
0 引 言
1 實(shí)驗(yàn)方法
    1.1 待測PCB
    1.2 測試方法
2 測試結(jié)果及分析
    2.1 放電位置及軌線特性對(duì)耦合電壓的影響
        1)末端放電點(diǎn)
        2)側(cè)端放電點(diǎn)
        3)耦合電壓波形比較
    2.2 放電電壓對(duì)耦合電壓的影響
    2.3 對(duì)耦合電壓的分析
3 ESD模擬器仿真及結(jié)果比較
    3.1 ESD模擬器全波模型的建立
    3.2 仿真結(jié)果及比較
4 結(jié) 論



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