隨著近年來SoC芯片的廣泛應用,解決SoC的可測性問題,已經(jīng)成為人們關注和研究的熱點。針對SoC測試向量數(shù)據(jù)量大的問題,目前研究者們已經(jīng)提出了許多的解決方案,其中內(nèi)建自測試是最有效的一種。在內(nèi)建自測試中,最典型和最重要的就是存儲體內(nèi)建自測試控制器,針對不同的SoC芯片,不同的電路結(jié)構,不同類型和大小的存儲體,需要考慮相應MBIST控制器的設計,以滿足在不同設計中的測試要求。同時,隨著超大規(guī)模集成電路深亞微米工藝技術和系統(tǒng)級芯片（SoC）的發(fā)展,使得集成電路的測試面臨越來越多的困難,尤其是測試時的功耗問題。因為過大的功耗會引起集成電路溫度上升,影響集成電路的正常工作,降低芯片的成品率和可靠性。因此,在芯片測試的過程中考慮功耗優(yōu)化已經(jīng)成為一種必須。由于SoC芯片中對存儲體模塊MBIST的廣泛使用,對其進行功耗優(yōu)化的研究也變得非�；钴S,已經(jīng)成為一個很重要的研究方向。本論文研究了常見MBIST算法的復雜性,運行時間和故障類型。選取適當?shù)乃惴ㄍ瓿闪薋T-SoC芯片所有memory的內(nèi)建自測試;根據(jù)存儲體的不同設計風格和層次,實現(xiàn)了兩種MBIST控制器的設計,并從多層次對其進行了成功的仿真驗證,證明...

【文章頁數(shù)】：88 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖3.2采用retentionCB和march2算法的MBIST結(jié)果波形圖

所以可以采用march2和retentionCB這兩種算法來設計MBIST，結(jié)合這兩種算法可以測到上述大部分的故障（除了ADOF這樣比較少見的故障），提升MBIST的故障覆蓋率。圖3.2就是采用retentionCB和march2算法測試存儲體的波形圖。圖3.2采用rete....

圖3.4(a)步驟1波形圖

是mbist_clk要連接到較快的時鐘上，圖中映射到了CLKA（如果CLKA快于CLKB）則CLKB就會是浮空的，需要自己加MUX，在MBIST模式下，保證CLKB統(tǒng)一CLKA。3.5.2MBIST執(zhí)行過程明白了MBIST的設計之后，還需要知....

圖3.4(b)步驟2波形圖

圖3.4(b)步驟2波形圖步驟3：地址遞增寫全0（一個地址占5拍），按照地址遞增的順序，對每個地址執(zhí)行如下操作：(1)讀，在下一拍讀操作，將看到讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)在Q，為全F；(2)寫，在下一拍寫操作，將看到寫入的數(shù)據(jù)出現(xiàn)在D，為全0；(3)讀，在下一拍讀操作....

圖3.4(c)步驟3波形圖

第三章MBIST可編程控制器的實現(xiàn)圖3.4(b)步驟2波形圖步驟3：地址遞增寫全0（一個地址占5拍），按照地址遞增的順序，對每個地執(zhí)行如下操作：(1)讀，在下一拍讀操作，將看到讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)在Q，為全F；(2)寫，在下一拍寫操作，將看到寫入的數(shù)據(jù)出現(xiàn)在D....

本文編號：4046740