本文關(guān)鍵詞：直流應(yīng)力下電極表面覆膜對金屬微粒啟舉的影響機(jī)理研究

  更多相關(guān)文章： 直流GIL 電極表面覆膜 金屬微粒啟舉 充電時(shí)間常數(shù) 間歇性啟舉 重啟舉時(shí)長

【摘要】：針對直流GIL中的自由金屬微粒污染物問題,研究表面覆膜措施對金屬微粒啟舉的限制機(jī)理。利用氣體電離及界面電荷積聚理論提出了直流應(yīng)力下電極覆膜時(shí)金屬微粒帶電及啟舉模型,并根據(jù)微粒帶電量的時(shí)變特征提出了充電時(shí)間的概念。為驗(yàn)證模型的正確性,構(gòu)建了多功能模塊的金屬微粒帶電.運(yùn)動(dòng)觀測實(shí)驗(yàn)平臺(tái),對不同大小、材質(zhì)的球形金屬微粒以及不同厚度的PET薄膜開展實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了模型的正確性:直流應(yīng)力下,覆膜措施產(chǎn)生的界面極化過程只是增加了微粒的充電時(shí)間,而對微粒最終帶電量并無影響,但覆膜產(chǎn)生的靜電吸附力可顯著提高微粒的啟舉電壓;外施電壓、覆膜介電常數(shù)及體電導(dǎo)率對微粒充電時(shí)間均有顯著影響;而由于充電時(shí)間的存在使得電極覆膜措施下出現(xiàn)微粒"間歇啟舉"現(xiàn)象。
【作者單位】： 華北電力大學(xué)電氣與電子工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 直流GIL 電極表面覆膜 金屬微粒啟舉 充電時(shí)間常數(shù) 間歇性啟舉 重啟舉時(shí)長
【基金】：國家重點(diǎn)基礎(chǔ)研究發(fā)展計(jì)劃(973計(jì)劃)(2014CB239502)資助項(xiàng)目
【分類號(hào)】：TM75
【正文快照】： 0引言 1金屬微粒帶電及啟舉模型氣體絕緣金屬封閉輸電線路(gas insulated metal 1.1裸電極上金屬微粒帶電與啟舉的靜電場分析enclosed transmission line,GIL)因其具有輸送容量大、 為方便理論計(jì)算與實(shí)驗(yàn)觀察,本文采用球形金屬損耗低、環(huán)境友好且維護(hù)成本低的優(yōu)點(diǎn),目前在高落

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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3 汪l，

本文編號(hào)：840223