鋰離子電池是新型的能源儲(chǔ)存介質(zhì),其具有高電壓、長(zhǎng)循環(huán)壽命、高比容量、低自放電、高安全性、環(huán)保無(wú)污染、無(wú)記憶效應(yīng)等優(yōu)良的特性。目前,鋰離子電池已經(jīng)廣泛被應(yīng)用于手機(jī)、筆記本電腦以及數(shù)碼產(chǎn)品等便攜式電子設(shè)備,隨著人類(lèi)社會(huì)的持續(xù)發(fā)展,不可再生資源的日益枯竭,鋰離子電池必定會(huì)在電動(dòng)汽車(chē)(EVS)、混合動(dòng)力汽車(chē)等上面具有更廣泛的應(yīng)用前景。但是,傳統(tǒng)的鋰離子電池其容量較小,已經(jīng)無(wú)法滿足人們對(duì)大容量的鋰電池的迫切需求。因此,開(kāi)發(fā)新的鋰離子電池材料迫在眉睫。硅負(fù)極材料具有最高的理論比容量(4200mAh/g),同時(shí)具有較低的嵌鋰/脫鋰電勢(shì)。因此,硅材料可以用來(lái)開(kāi)發(fā)新一代的鋰離子電池,以便提高其容量。但是,即使硅材料具備前面所介紹的諸多優(yōu)點(diǎn),其商業(yè)化進(jìn)程也并非一帆風(fēng)順,因?yàn)槠溲h(huán)過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生巨大的體積膨脹(>300%)。而碳材料雖然比容量較小,但是其循環(huán)性能較好,結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。因此,我們可以結(jié)合這二者的優(yōu)勢(shì),制備出新型可用于鋰離子電池的負(fù)極硅-碳復(fù)合材料。本論文的主要采用了三種方法對(duì)一氧化硅進(jìn)行性能改進(jìn),分別制備出了一氧化硅微米顆粒以及兩種不同的空心核殼硅-碳復(fù)合材料。通過(guò)X射線衍射儀(XRD)、拉曼光...

【文章頁(yè)數(shù)】：84 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 文獻(xiàn)綜述及本文選題
    1.1 背景
    1.2 鋰離子電池概述
    1.3 鋰離子電池的性能優(yōu)勢(shì)
    1.4 鋰離子電池硅基負(fù)極材料研究進(jìn)展
        1.4.1 多孔硅納米顆粒
        1.4.2 空心硅顆粒
        1.4.3 硅@碳核殼結(jié)構(gòu)材料
        1.4.4 硅納米顆粒/石墨烯復(fù)合材料
        1.4.5 硅納米顆粒/碳納米管復(fù)合材料
        1.4.6 硅納米顆粒/碳多孔復(fù)合材料
        1.4.7 硅納米顆粒/碳其他復(fù)合材料
        1.4.8 硅納米顆粒的電化學(xué)性能機(jī)理
    1.5 論文的研究目的和內(nèi)容
第二章 實(shí)驗(yàn)材料及研究方法
    2.1 實(shí)驗(yàn)材料與儀器
        2.1.1 實(shí)驗(yàn)藥品
        2.1.2 實(shí)驗(yàn)儀器
    2.2 材料的制備
        2.2.1 納米硅材料的制備
        2.2.2 二氧化硅的包覆
        2.2.3 檸檬酸的原位碳化
        2.2.4 乙炔碳的化學(xué)氣相沉積
        2.2.5 二氧化硅層的去除
    2.3 試樣的物理性能表征
        2.3.1 試樣的X射線衍射分析
        2.3.2 試樣的拉曼光譜分析
        2.3.3 試樣的掃描電子顯微鏡分析
        2.3.4 試樣的透射電子顯微鏡分析
    2.4 試樣的電化學(xué)性能表征
        2.4.1 電極的制備
        2.4.2 紐扣電池的組裝
        2.4.3 充放電測(cè)試
第三章 簡(jiǎn)單球磨法Si0材料的制備及性能研究
    3.1 引言
    3.2 實(shí)驗(yàn)步驟
    3.3 結(jié)果與討論
        3.3.1 X射線粉末衍射(XRD)測(cè)試
        3.3.2 掃描電子顯微鏡(SEM)測(cè)試
        3.3.3 充放電測(cè)試
    3.4 本章小結(jié)
第四章 高溫?zé)峤夥⊿iO@void@C復(fù)合材料的制備及性能研究
    4.1 引言
    4.2 實(shí)驗(yàn)步驟
        4.2.1 納米SiO的制備
        4.2.2 二氧化硅層的包覆
        4.2.3 檸檬酸的高溫?zé)峤?br>        4.2.4 二氧化硅層的去除
    4.3 結(jié)果與討論
        4.3.1 X射線粉末衍射(XRD)測(cè)試
        4.3.2 拉曼光譜(Raman spectra)測(cè)試
        4.3.3 掃描電子顯微鏡(SEM)測(cè)試
        4.3.4 透射電子顯微鏡(TEM)測(cè)試
        4.3.5 EDS能譜分析
        4.3.6 充放電測(cè)試
    4.4 本章小結(jié)
第五章 化學(xué)氣相沉積法Sio@void@C復(fù)合材料的制備及性能研究
    5.1 引言
    5.2 實(shí)驗(yàn)步驟
        5.2.1 納米SiO的制備
        5.2.2 二氧化硅層的包覆
        5.2.3 乙炔碳的化學(xué)氣相沉積
        5.2.4 二氧化硅層的去除
    5.3 結(jié)果與討論
        5.3.1 X射線粉末衍射(XRD)
        5.3.2 拉曼光譜(Raman spectra)測(cè)試
        5.3.3 掃描電子顯微鏡(SEM)測(cè)試
        5.3.4 透射電子顯微鏡(TEM)分析
        5.3.5 EDS能譜分析
        5.3.6 充放電測(cè)試
    5.4 本章小結(jié)
第六章 結(jié)論
參考文獻(xiàn)
致謝
攻讀碩士期間科研成果
作者和導(dǎo)師簡(jiǎn)介
附件



本文編號(hào)：3779695