快速增長(zhǎng)的數(shù)據(jù)需要更可靠的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方式。云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)基于多種冗余技術(shù)來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)高可靠性和可用性,是數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的關(guān)鍵技術(shù)之一。不完全覆蓋作為任何容錯(cuò)系統(tǒng)利用自動(dòng)恢復(fù)機(jī)制的固有行為,會(huì)因?yàn)楦采w不完全而導(dǎo)致系統(tǒng)在仍有冗余存在的情況下發(fā)生失效,造成冗余的浪費(fèi)和系統(tǒng)不可靠。鑒于此,本文針對(duì)受不完全覆蓋影響的5磁盤云存儲(chǔ)系統(tǒng),分別對(duì)受部件級(jí)不完全覆蓋(Element Level Coverage,ELC)和故障級(jí)不完全覆蓋(Fault level Coverage,FLC)影響下的系統(tǒng)可靠性進(jìn)行研究,具體研究工作和貢獻(xiàn)體現(xiàn)如下:(1)部件級(jí)不完全覆蓋影響下云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)多態(tài)系統(tǒng)可靠性分析方法�？紤]部件級(jí)不完全覆蓋的特點(diǎn),系統(tǒng)中磁盤的失效覆蓋因子各自獨(dú)立互不影響。因此基于故障樹分析以及多狀態(tài)多值決策圖,得出磁盤可劃分為四個(gè)狀態(tài)并利用馬爾科夫狀態(tài)轉(zhuǎn)換模型對(duì)受部件級(jí)不完全覆蓋(ELC)影響下的多態(tài)磁盤的狀態(tài)進(jìn)行分析。在拉普拉斯變換的基礎(chǔ)上,推導(dǎo)得出磁盤狀態(tài)概率的計(jì)算公式,利用多值多狀態(tài)決策圖對(duì)整個(gè)5磁盤云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)的狀態(tài)進(jìn)行分析。另外,利用數(shù)值仿真驗(yàn)證方法的正確性,研究了轉(zhuǎn)換概率和失效時(shí)間對(duì)磁盤狀態(tài)概率的...

【文章頁數(shù)】：88 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
第一章 緒論
    1.1 研究背景及意義
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.2.1 基于云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)可靠性研究
        1.2.2 基于不完全覆蓋的系統(tǒng)研究
        1.2.3 基于多態(tài)系統(tǒng)可靠性優(yōu)化研究
    1.3 論文的內(nèi)容和結(jié)構(gòu)安排
第二章 多狀態(tài)多值決策圖和不完全覆蓋模型
    2.1 云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)多態(tài)系統(tǒng)
    2.2 多狀態(tài)多值決策圖(MMDD)
    2.3 部件級(jí)不完全覆蓋(ELC)
    2.4 故障級(jí)不完全覆蓋(FLC)
第三章 考慮部件級(jí)不完全覆蓋的云存儲(chǔ)系統(tǒng)多態(tài)可靠性分析
    3.1 受部件級(jí)不完全覆蓋影響的磁盤狀態(tài)分析
    3.2 受部件級(jí)不完全覆蓋影響的系統(tǒng)狀態(tài)分析
        3.2.1 云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)處于完美運(yùn)行狀態(tài)
        3.2.2 云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)處于故障被完全覆蓋狀態(tài)
        3.2.3 云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)處于退化狀態(tài)
        3.2.4 云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)處于故障不完全覆蓋狀態(tài)
    3.3 受部件級(jí)不完全覆蓋影響的云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)可靠性評(píng)估
        3.3.1 磁盤可靠性評(píng)估
        3.3.2 系統(tǒng)可靠性評(píng)估
    3.4 小結(jié)
第四章 考慮故障級(jí)不完全覆蓋的云存儲(chǔ)系統(tǒng)多態(tài)可靠性分析
    4.1 受故障級(jí)不完全覆蓋影響的云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)狀態(tài)分析
        4.1.1 控制器完美運(yùn)行情況
        4.1.2 控制器存在失效情況
    4.2 受故障級(jí)不完全覆蓋影響的云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)可靠性數(shù)值仿真驗(yàn)證
        4.2.1 控制器完美運(yùn)行情況
        4.2.2 控制器存在失效情況
    4.3 小結(jié)
第五章 考慮磁盤選擇對(duì)不完全覆蓋影響下多態(tài)系統(tǒng)的優(yōu)化
    5.1 考慮磁盤選擇對(duì)ELC下多態(tài)系統(tǒng)優(yōu)化
    5.2 小結(jié)
    5.3 考慮磁盤選擇對(duì)FLC下多態(tài)系統(tǒng)的優(yōu)化
        5.3.1 控制器完美運(yùn)行情況
        5.3.2 控制器存在失效情況
    5.4 小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
    6.1 全文總結(jié)
    6.2 工作展望
致謝
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間取得的成果



本文編號(hào)：3944184