<正>新生兒缺氧缺血性腦病（hypoxic-ischemic encephalopathy,HIE）是由圍產(chǎn)期急性缺氧缺血導(dǎo)致的新生兒腦損傷,在發(fā)達國家發(fā)病率為（2～3）/1000,而發(fā)展中國家高達（10～20）/1 000^[1]。盡管低溫治療技術(shù)在患兒生后6 h內(nèi)的應(yīng)用,使中重度HIE患兒預(yù)后有顯著改善,但HIE仍是足月新生兒神經(jīng)發(fā)育障礙、癲癇、腦癱甚至死亡的主要病因^[2]。 

【文章來源】：發(fā)育醫(yī)學(xué)電子雜志. 2020,8(04)

【文章頁數(shù)】：6 頁

【文章目錄】：
1 腦電監(jiān)測時機
2 適宜的腦電監(jiān)測模式
3 腦電監(jiān)測在新生兒HIE驚厥管理中的應(yīng)用
4 腦電監(jiān)測對預(yù)測新生兒HIE預(yù)后的價值


【參考文獻】：
期刊論文
[1]振幅整合腦電圖在新生兒膽紅素腦病急性期監(jiān)測及預(yù)后評估中的價值[J]. 夏耀方,楊娟,田寶麗,劉翠青.  發(fā)育醫(yī)學(xué)電子雜志. 2017(03)
[2]亞低溫治療新生兒缺氧缺血性腦病方案（2011）[J]. 邵肖梅.  中國循證兒科雜志. 2011(05)



本文編號：3601722