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基于統(tǒng)計(jì)編碼的壓縮研究

發(fā)布時(shí)間:2017-07-05 16:21

  本文關(guān)鍵詞:基于統(tǒng)計(jì)編碼的壓縮研究


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【摘要】:隨著超大集成電路的發(fā)展,高性能、低成本的芯片成為主流。而一方面由于電路集成度增加,導(dǎo)致復(fù)用功能IP(Intellectual Property)核越來越多,但是外部自測試設(shè)備ATE(Auto Test Equipment)的帶寬、通道數(shù)目以及時(shí)鐘頻率跟不上測試要求。通過提高ATE的硬件配置雖然能解決問題,但是成本過高。另一方面隨著電路的發(fā)展,需要在芯片上測試的向量數(shù)也越來越多,這給測試帶來更大的挑戰(zhàn)。測試壓縮是解決這些問題的重要方法之一。測試壓縮不僅能夠除去壓縮中的冗余信息,而且可以提高ATE傳送數(shù)據(jù)的速度,從而更好的減少數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間、減少數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量,對于大數(shù)據(jù)時(shí)代中的數(shù)據(jù)處理有著重要的意義。本文在這種背景上做出研究。首先本文介紹了壓縮過程中可能出現(xiàn)的故障,包括軟故障、硬故障,同時(shí)介紹了理想中的測試生成技術(shù),降低在測試中發(fā)生故障幾率。其次分析傳統(tǒng)壓縮方法主要包括Golomb編碼、FDR編碼以及交替連續(xù)編碼,還有幾種基于統(tǒng)計(jì)的壓縮方法包括Huffman編碼、選擇Huffman編碼以及九值編碼等,分析出其運(yùn)用統(tǒng)計(jì)固定塊出現(xiàn)頻率的方法來壓縮數(shù)據(jù)流,得到的壓縮率高且還原簡單。而這些傳統(tǒng)壓縮數(shù)據(jù)方法是基于0游程或者1游程劃分?jǐn)?shù)據(jù)流,這種方法只能針對一種類型的游程進(jìn)行編碼,而本文提出用冪次劃分?jǐn)?shù)據(jù)流不僅針對0或1游程編碼,對于交替跳變的編碼也可以同時(shí)進(jìn)行劃分,這樣劃分出不同的連續(xù)或者交替塊后,就可以用統(tǒng)一的前綴形式壓縮數(shù)據(jù)流。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明本文提出的算法平均壓縮率達(dá)到62.23%,高于Golomb碼和折半編碼。其次傳統(tǒng)編碼在還原的時(shí)候必須根據(jù)特殊標(biāo)記位進(jìn)行還原,而本文提出的編碼方法,可以直接根據(jù)前綴1的個(gè)數(shù)計(jì)算出原數(shù)據(jù)塊連續(xù)個(gè)數(shù),從而減少還原步驟,提高了壓縮時(shí)間。
【關(guān)鍵詞】:冪次 連續(xù) 交替 芯片測試 編碼壓縮
【學(xué)位授予單位】:安慶師范大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:C81
【目錄】:
  • 摘要6-8
  • ABSTRACT8-15
  • 第一章 緒論15-22
  • 1.1 數(shù)據(jù)壓縮研究背景15-20
  • 1.1.1 集成電路發(fā)展歷程16-17
  • 1.1.2 SOC測試壓縮背景17-18
  • 1.1.3 SOC測試壓縮面臨的瓶頸18-19
  • 1.1.4 課程研究意義19-20
  • 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀20-21
  • 1.3 論文各章節(jié)安排21-22
  • 第二章 SOC測試技術(shù)簡介22-30
  • 2.1 測試概述22-24
  • 2.1.1 SOC測試介紹22
  • 2.1.2 SOC測試相關(guān)知識(shí)22-24
  • 2.2 SOC測試故障模型和測試生成24-26
  • 2.2.1 故障類型分類25
  • 2.2.2 測試生成25-26
  • 2.3 測試方法研究26-29
  • 2.3.1 內(nèi)建自測試技術(shù)和外建自測試技術(shù)26-29
  • 2.3.2 測試緊縮技術(shù)29
  • 2.4 小結(jié)29-30
  • 第三章 基于SOC測試壓縮概述30-43
  • 3.1 幾種常見的編碼方法30-35
  • 3.1.1 Golomb編碼31-32
  • 3.1.2 FDR編碼32-33
  • 3.1.3 交替與連續(xù)編碼33-35
  • 3.2 統(tǒng)計(jì)壓縮方法35-42
  • 3.2.1 熵理論35-36
  • 3.2.2 Huffman編碼36-38
  • 3.2.3 選擇Huffman編碼38-39
  • 3.2.4 最佳選擇Huffman編碼39-41
  • 3.2.5 九值編碼41-42
  • 3.3 小結(jié)42-43
  • 第四章 基于多個(gè)連續(xù)數(shù)據(jù)復(fù)制的冪次劃分?jǐn)?shù)據(jù)壓縮方法43-52
  • 4.1 連續(xù)復(fù)制冪次劃分方法43-45
  • 4.1.1 連續(xù)數(shù)據(jù)復(fù)制的冪次劃分基本思想43-44
  • 4.1.2 冪次劃分實(shí)例44-45
  • 4.1.3 多個(gè)連續(xù)數(shù)據(jù)復(fù)制的冪次劃分?jǐn)?shù)據(jù)集實(shí)例45
  • 4.2 算法分析45-46
  • 4.3 理論分析46-48
  • 4.4 解碼電路設(shè)計(jì)48-49
  • 4.5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果49-51
  • 4.6 小結(jié)51-52
  • 第五章 總結(jié)和展望52-54
  • 致謝54-56
  • 參考文獻(xiàn)56-61
  • 作者讀研期間所取得的讀研成果61

【相似文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 楊麗;常國鋒;張丹;;半導(dǎo)體芯片測試數(shù)據(jù)傳輸方法的研究[J];新鄉(xiāng)學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2009年01期

中國重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 易指松;陳俊;王憶文;;基于C#語言.NET Framework平臺(tái)的芯片測試中轉(zhuǎn)系統(tǒng)[A];第十五屆計(jì)算機(jī)工程與工藝年會(huì)暨第一屆微處理器技術(shù)論壇論文集(A輯)[C];2011年

2 王偉;李曉維;張佑生;方芳;;芯片測試中的功耗控制技術(shù)[A];第四屆中國測試學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2006年

中國重要報(bào)紙全文數(shù)據(jù)庫 前3條

1 吳珊紅;首鋼日電購買安捷倫93000系列單芯片測試系統(tǒng)[N];國際商報(bào);2004年

2 本報(bào)記者 陳炳欣;TD-LTE:終端芯片測試仍是難點(diǎn)[N];中國電子報(bào);2012年

3 記者 葉青 通訊員 魏妮娜;搭建LED芯片測試與分選平臺(tái)[N];廣東科技報(bào);2010年

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 張弘;面向系統(tǒng)芯片測試的設(shè)計(jì)優(yōu)化技術(shù)研究[D];西安電子科技大學(xué);2004年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 鄭瀏e,

本文編號(hào):522718


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