本文關(guān)鍵詞：緊聚焦徑向偏振倏逝場的測量

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【摘要】：基于徑向偏振光束的全內(nèi)反射熒光顯微成像具有更高的成像分辨率,探究其倏逝場的強(qiáng)度分布規(guī)律是實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和優(yōu)化的關(guān)鍵�；谑噶垦苌淅碚�,推導(dǎo)了聚焦的徑向偏振倏逝場的數(shù)學(xué)表達(dá)式,進(jìn)行了理論計(jì)算,并基于掃描近場光學(xué)顯微鏡搭建了實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),測試了倏逝場的強(qiáng)度分布,驗(yàn)證了理論分析。測試結(jié)果表明,聚焦的徑向偏振光束產(chǎn)生的倏逝場在橫向及軸向都具有非常高的分辨率,在可見光波長范圍內(nèi),光斑橫向半高全寬度在100~200nm范圍,軸向半高全寬度在40~80nm范圍,突破了衍射極限,證明了該類型倏逝場在全內(nèi)反射熒光顯微成像領(lǐng)域巨大的應(yīng)用價(jià)值,也為接下來的系統(tǒng)改進(jìn)提供了技術(shù)支持。
【作者單位】： 北京信息科技大學(xué)光電測試技術(shù)北京市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： 全內(nèi)反射熒光顯微成像 徑向偏振光 倏逝場 掃描近場光學(xué)顯微鏡
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61108047;61475021) 教育部新世紀(jì)優(yōu)秀人才支持計(jì)劃(NCET-13-0667) 北京市青年拔尖人才支持計(jì)劃(CIT&TCD201404113)
【分類號(hào)】：TH742
【正文快照】： 全內(nèi)反射熒光顯微鏡(Total Internal ReflectionMicroscopy,TIRF)是一種用于薄樣品(通常小于200nm)觀測的一種成像技術(shù)[1]。該技術(shù)使用倏逝場在軸向范圍內(nèi)非常薄的區(qū)域內(nèi)激發(fā)熒光,可以實(shí)現(xiàn)細(xì)胞表層高分辨率成像,這對(duì)于研究很多發(fā)生在細(xì)胞或分子表層的生命活動(dòng)具有非常重要的價(jià)，

本文編號(hào)：819898