本文關(guān)鍵詞：應(yīng)用于曲軸測(cè)量的二維模擬測(cè)頭設(shè)計(jì)

  更多相關(guān)文章： 曲軸測(cè)量 二維測(cè)頭 恒定測(cè)量力 精密檢測(cè)電路

【摘要】：曲軸是發(fā)動(dòng)機(jī)的核心構(gòu)件之一,對(duì)曲軸的軸向尺寸和徑向尺寸的精密檢測(cè)是保證加工質(zhì)量的必要條件。為了解決傳統(tǒng)測(cè)量方法測(cè)量精度差、效率低、測(cè)量項(xiàng)目不全面等問(wèn)題,有必要開(kāi)展曲軸測(cè)量機(jī)專用測(cè)頭的研究和技術(shù)開(kāi)發(fā),為進(jìn)一步研制數(shù)控曲軸綜合測(cè)量機(jī)創(chuàng)造條件。本文分析了國(guó)內(nèi)外曲軸測(cè)量工藝的特點(diǎn),提出了二維模擬測(cè)頭的研究方案,該方案既能測(cè)量曲軸徑向參數(shù)又能測(cè)量曲軸軸向參數(shù)�；谌嵝糟q鏈設(shè)計(jì)了高精度的測(cè)頭導(dǎo)向機(jī)構(gòu)。利用導(dǎo)向機(jī)構(gòu)同永磁體磁力之間的動(dòng)態(tài)力平衡關(guān)系設(shè)計(jì)了一種恒力結(jié)構(gòu),通過(guò)分析測(cè)頭在測(cè)量過(guò)程中的受力狀態(tài)推導(dǎo)出了測(cè)頭徑向及軸向恒定測(cè)量力表達(dá)式,并給出了恒定測(cè)量力狀態(tài)下測(cè)頭機(jī)械參數(shù)理論值。為了實(shí)現(xiàn)測(cè)頭高分辨率測(cè)量,設(shè)計(jì)了基于LVDT傳感器的雙通道精密檢測(cè)電路。該電路以STM32為核心,以AD7190為模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片,并采用USB與上位機(jī)通信。加工試制了二維模擬測(cè)頭樣機(jī),經(jīng)過(guò)綜合調(diào)試,初步完成了二維模擬測(cè)頭的系統(tǒng)標(biāo)定。經(jīng)過(guò)試驗(yàn)驗(yàn)證,測(cè)頭測(cè)量分辨率達(dá)0.0123μtm；標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)值為±2.06μm；在1mm的測(cè)量范圍內(nèi),測(cè)量結(jié)果的非線性度為0.337%;在有效測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量力波動(dòng)范圍在±10%之內(nèi)。
【學(xué)位授予單位】：西安工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TH71

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 ;電測(cè)頭[J];儀器儀表通訊;1971年04期

2 秦樹(shù)人;;多測(cè)頭法補(bǔ)償圓分度誤差的理論與應(yīng)用[J];計(jì)量技術(shù);1984年01期

3 宣建民;;內(nèi)徑量表的測(cè)頭更換法[J];計(jì)量技術(shù);1987年03期

4 王君蓮;;修復(fù)內(nèi)徑表小測(cè)頭的工具[J];計(jì)量技術(shù);1991年08期

5 王曉昱;雷尼紹公司的兩種新型測(cè)頭系統(tǒng)[J];機(jī)電國(guó)際市場(chǎng);2000年02期

6 邵先能;50-160內(nèi)徑表可換測(cè)頭的改制[J];上海計(jì)量測(cè)試;2001年03期

7 高銳強(qiáng),黃榮瑛,宋建忠,徐少臣;模擬測(cè)頭標(biāo)定的研究[J];制造業(yè)自動(dòng)化;2003年03期

8 諸錫荊,王晉;坐標(biāo)測(cè)頭技術(shù)及應(yīng)用[J];中國(guó)計(jì)量;2004年02期

9 張國(guó)雄;那永林;郭敬濱;樊玉銘;裘祖榮;杜穎;解則曉;;四發(fā)射單接收光學(xué)非接觸測(cè)頭(英文)[J];納米技術(shù)與精密工程;2006年01期

10 李平;王建華;李小麗;段廣云;;影響測(cè)微儀測(cè)頭臨界脫離頻率因素的研究[J];機(jī)床與液壓;2006年10期

中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前6條

1 方倩;郭俊杰;;激光非接觸式測(cè)頭的研究與應(yīng)用[A];制造技術(shù)自動(dòng)化學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2002年

2 葉震宇;王國(guó)民;;觸發(fā)式測(cè)頭的動(dòng)態(tài)直徑小于靜態(tài)直徑的原因及校正測(cè)頭要注意的問(wèn)題[A];江蘇省計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)2006年論文集[C];2006年

3 劉勇;畢超;高英;張譚;房建國(guó);;光學(xué)測(cè)頭光束方向平面標(biāo)定法的研究與應(yīng)用[A];面向航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)——2013年航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)峰會(huì)暨學(xué)術(shù)交流會(huì)論文集[C];2013年

4 李春;劉書(shū)桂;;三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭半徑補(bǔ)償與曲面匹配[A];中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)第五屆青年學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2003年

5 劉麗冰;桑宏強(qiáng);陳英姝;田大偉;;用觸發(fā)式測(cè)頭實(shí)現(xiàn)工件在線監(jiān)控[A];2005年中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)年會(huì)論文集[C];2005年

6 盧明臻;高思田;杜華;崔建軍;;大范圍納米結(jié)構(gòu)測(cè)量系統(tǒng)原子力測(cè)頭的研究[A];2007'中國(guó)儀器儀表與測(cè)控技術(shù)交流大會(huì)論文集（二）[C];2007年

中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前8條

1 余惠娟;基于諧振模式的三維納米測(cè)頭觸發(fā)方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2015年

2 丁邦宙;基于光纖布拉格光柵的觸發(fā)式三維測(cè)頭研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2011年

3 李源;MEMS壓阻式三維微觸覺(jué)測(cè)頭及其在納米測(cè)量機(jī)上的應(yīng)用研究[D];天津大學(xué);2007年

4 孫鳳鳴;基于MEMS的陣列式掃描探針顯微鏡測(cè)頭理論與技術(shù)研究[D];天津大學(xué);2013年

5 趙健;面向復(fù)合式測(cè)量的自感應(yīng)AFM測(cè)頭開(kāi)發(fā)與系統(tǒng)研究[D];天津大學(xué);2011年

6 陳浩;光學(xué)式軸孔內(nèi)徑測(cè)量方法及關(guān)鍵技術(shù)研究[D];天津大學(xué);2014年

7 王春;大型配對(duì)型面數(shù)字化制造技術(shù)的研究[D];大連理工大學(xué);2002年

8 王洪波;轉(zhuǎn)速衰減式粘度儀及相關(guān)技術(shù)的研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2014年

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 曾婷;基于坐標(biāo)測(cè)量的石英音叉測(cè)頭誤差分析及標(biāo)定[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2015年

2 何明軒;MEMS電容式微觸覺(jué)測(cè)頭設(shè)計(jì)、制備及性能測(cè)試研究[D];上海交通大學(xué);2013年

3 王洋;三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采樣預(yù)測(cè)方法及測(cè)頭補(bǔ)償技術(shù)研究[D];東北大學(xué);2014年

4 金宇;基于光學(xué)測(cè)頭的車軸視覺(jué)測(cè)量技術(shù)研究[D];吉林大學(xué);2016年

5 梁燕振;基于五軸在機(jī)測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)頭半徑補(bǔ)償方法研究[D];燕山大學(xué);2016年

6 李雅寧;應(yīng)用于曲軸測(cè)量的二維模擬測(cè)頭設(shè)計(jì)[D];西安工業(yè)大學(xué);2016年

7 鄭智偉;光柵式二維掃描測(cè)頭的研制[D];北京工業(yè)大學(xué);2012年

8 韓欣;觸發(fā)式光纖測(cè)頭關(guān)鍵技術(shù)研究[D];北京工業(yè)大學(xué);2012年

9 盧歆;三維微觸覺(jué)測(cè)頭校準(zhǔn)裝置的研究[D];中國(guó)計(jì)量學(xué)院;2012年

10 李智;基于時(shí)間差法的光學(xué)共焦式測(cè)頭[D];天津大學(xué);2005年

，

本文編號(hào)：1216861