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二維陣列導波聚焦方法及無損檢測系統(tǒng)研究

發(fā)布時間:2017-10-21 16:29

  本文關鍵詞:二維陣列導波聚焦方法及無損檢測系統(tǒng)研究


  更多相關文章: 柔性二維陣列換能器 導波雙相控聚焦 檢測系統(tǒng) 曲面類缺陷 實時B掃


【摘要】:曲面類零件大量應用于國防航空和民用航空等領域,作為關鍵結構的核心零件,其工作環(huán)境相對復雜和惡劣,極易在工作過程中形成表面裂紋缺陷,因此必須對其進行嚴格的無損檢測,確保正常工作。本課題針對目前曲面類零件超聲無損檢測所面臨的問題,提出了用陣列導波檢測曲面類零件表面缺陷的思想,應用柔性陣列換能器,解決換能器與曲面耦合問題,實現(xiàn)曲面零件表面微裂紋的檢測。導波具有多模態(tài)和頻散特性,本文基于導波檢測原理,通過理論和實驗相結合的方法,對陣列換能器激勵導波模態(tài)控制問題進行了研究,提出了導波模態(tài)變頻控制和相位控制理論。為提高檢測效率,設計了柔性二維陣列換能器,依據(jù)導波模態(tài)相位控制和相控陣理論,提出了二維陣列導波雙相控聚焦方法,并將其應用于二維陣列導波成像檢測。根據(jù)柔性二維陣列換能器設計和理論算法研究,設計了二維陣列無損檢測系統(tǒng),開展了硬件的選型和軟件詳細的模塊化設計,搭建了二維陣列無損檢測系統(tǒng)。應用二維陣列無損檢測系統(tǒng),設計了驗證和檢測實驗,驗證了系統(tǒng)的功能和理論算法,實現(xiàn)了運用聚焦導波對不同被測件上缺陷的實時檢測成像。本文設計的二維陣列無損檢測系統(tǒng)適用于二維陣列換能器的導波和表面波檢測,可以應用于曲面類零件表面缺陷的無損檢測,其核心是可以實現(xiàn)對表面缺陷的實時成像檢測,方便用戶通過實時圖像辨別缺陷位置,提高了檢測效率和可靠性。
【關鍵詞】:柔性二維陣列換能器 導波雙相控聚焦 檢測系統(tǒng) 曲面類缺陷 實時B掃
【學位授予單位】:北京理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TH878
【目錄】:
  • 摘要5-6
  • Abstract6-10
  • 第1章 緒論10-19
  • 1.1 陣列導波超聲無損檢測技術的研究意義10-13
  • 1.2 陣列導波超聲無損檢測技術的發(fā)展現(xiàn)狀13-16
  • 1.2.1 陣列導波超聲無損檢測方法的研究現(xiàn)狀14-15
  • 1.2.2 陣列導波換能器的研究和發(fā)展現(xiàn)狀15-16
  • 1.2.3 陣列導波超聲無損檢測技術的發(fā)展趨勢16
  • 1.3 本課題的研究內容16-19
  • 第2章 線性陣列導波模態(tài)選擇與控制方法19-38
  • 2.1 導波檢測原理19-23
  • 2.1.1 導波傳播原理19-22
  • 2.1.2 導波激勵原理22-23
  • 2.2 線性陣列換能器導波激勵分析23-26
  • 2.2.1 線性陣列導波激勵特性23-24
  • 2.2.2 線性陣列換能器陣元間距確定24-25
  • 2.2.3 線性陣列導波模態(tài)選擇與控制方法分析25-26
  • 2.3 陣列導波模態(tài)變頻控制26-30
  • 2.3.1 陣列導波模態(tài)變頻控制理論分析26-27
  • 2.3.2 陣列導波模態(tài)變頻控制實驗分析27-30
  • 2.4 陣列導波模態(tài)相位控制30-37
  • 2.4.1 陣列導波相位控制理論分析30-32
  • 2.4.2 陣列導波相位控制數(shù)值分析32-34
  • 2.4.3 陣列導波相位控制實驗分析34-37
  • 2.5 本章小結37-38
  • 第3章 二維陣列導波換能器雙相控聚焦及成像方法研究38-51
  • 3.1 柔性二維陣列導波換能器38-39
  • 3.2 柔性二維陣列導波換能器設計39-43
  • 3.3 二維陣列導波雙相控聚焦方法43-48
  • 3.3.1 二維陣列導波雙相控聚焦方法研究43-45
  • 3.3.2 二維陣列導波雙相控聚焦驗證實驗45-48
  • 3.4 二維陣列導波成像方法48-50
  • 3.4.1 二維陣列導波成像理論48
  • 3.4.2 二維陣列導波成像實驗48-50
  • 3.5 本章小結50-51
  • 第4章 二維陣列無損檢測系統(tǒng)設計51-61
  • 4.1 系統(tǒng)總體設計51-52
  • 4.2 多通道超聲相控陣設備的選型52-54
  • 4.3 軟件總體設計54-60
  • 4.3.1 軟件功能分析54-56
  • 4.3.2 數(shù)據(jù)接口設計56-58
  • 4.3.3 界面設計58-60
  • 4.4 本章小結60-61
  • 第5章 二維陣列無損檢測軟件詳細設計61-76
  • 5.1 界面層多通道超聲檢測參數(shù)設置模塊61-62
  • 5.2 界面層二維陣列結構參數(shù)設置模塊62-63
  • 5.3 界面層檢測方式控制模塊63-67
  • 5.3.1 單發(fā)單收方式63-64
  • 5.3.2 模態(tài)控制方式64-65
  • 5.3.3 單點聚焦方式65-66
  • 5.3.4 扇形掃描方式66-67
  • 5.4 界面層數(shù)據(jù)顯示模塊67-69
  • 5.5 數(shù)據(jù)層數(shù)據(jù)存儲計算模塊69-73
  • 5.5.1 檢測方式實現(xiàn)69-70
  • 5.5.2 數(shù)據(jù)的全波存儲70-71
  • 5.5.3 數(shù)據(jù)處理和顯示71-73
  • 5.6 關鍵技術73-75
  • 5.7 本章小結75-76
  • 第6章 二維陣列無損檢測系統(tǒng)實驗76-91
  • 6.1 實驗系統(tǒng)76
  • 6.2 二維陣列無損檢測系統(tǒng)驗證實驗76-81
  • 6.2.1 檢測參數(shù)驗證實驗76-78
  • 6.2.2 單發(fā)單收方式驗證實驗78
  • 6.2.3 模態(tài)控制方式驗證實驗78-81
  • 6.3 二維陣列無損檢測系統(tǒng)檢測實驗81-89
  • 6.3.1 單點聚焦方式檢測實驗81-84
  • 6.3.2 扇形掃描方式檢測實驗84-89
  • 6.4 檢測結果影響因素分析89-90
  • 6.4.1 隨機因素89
  • 6.4.2 換能器因素89-90
  • 6.4.3 數(shù)據(jù)處理方法因素90
  • 6.5 本章小結90-91
  • 總結與展望91-93
  • 參考文獻93-96
  • 攻讀碩士學位期間發(fā)表論文與研究成果清單96-97
  • 致謝97

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本文編號:1074314

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