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全自動ACF粒子檢測技術研究

發(fā)布時間:2021-09-17 03:03
  在觸摸屏COG(chip on glass)和FOG(film on glass)熱壓合制作過程中,FPC(Flexible Printed Circuit)和芯片IC通過ACF(Anisotropic Conductive Film,各向異性導電膜)與玻璃基板連接,利用ACF中的導電粒子實現(xiàn)FPC、IC與玻璃基板上電路的連通,導電粒子壓合狀況的好壞直接決定觸摸屏質量的優(yōu)劣。傳統(tǒng)ACF導電粒子人工檢測效率低,利用高效的人工智能設備代替人工檢測可以大大提高液晶屏生產(chǎn)效率和質量。本文針對ACF導電粒子的質量檢測需求,設計并研發(fā)了ACF導電粒子檢測系統(tǒng)。全自動ACF粒子檢測系統(tǒng)基本原理是利用線陣相機對觸摸屏的COG和FOG上的Bump區(qū)域進行圖像采集、算法分析,最后對該目標檢測對象是否合格或不合格進行自動標記。本文的工作主要分為硬件設計和軟件設計兩部分。硬件方面,在分析了全自動ACF粒子檢測系統(tǒng)的需求和性能參數(shù)之后,確定了研發(fā)ACF粒子檢測系統(tǒng)的工作內容以及工作重心,根據(jù)需求設計了系統(tǒng)的整體框架,將硬件系統(tǒng)劃分為了對位模塊、平臺模塊、線陣掃描模塊、上料模塊、下料模塊和運動控制模塊,并對各個模... 

【文章來源】:電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】:86 頁

【學位級別】:碩士

【部分圖文】:

全自動ACF粒子檢測技術研究


ACF在液晶屏上的綁定區(qū)域

電子顯微鏡,粒子


電子科技大學碩士學位論文2屏COG區(qū)域的導電粒子的自動光學檢測技術是機器視覺在工業(yè)檢測領域的又一項重要應用。使用機器視覺進行自動光學檢測可以大幅提高檢測準確率,降低漏檢率,提高檢測效率,增加產(chǎn)品品質,提高生產(chǎn)率和用戶體驗[11,12]。圖1-1ACF在液晶屏上的綁定區(qū)域1.1.2ACF熱壓原理未熱壓的ACF電子顯微鏡下如圖1-2所示,主要材料為金球粒子和環(huán)氧樹脂。金球粒子大小直徑為3~5微米,以聚合物為內核,金或鎳為外殼,最外層為絕緣薄膜[13]。環(huán)氧樹脂主要作用是固定FPC和IC芯片,除此之外還有耐熱防濕的作用,由于其高溫固化的特性不易重工[14]。沒有熱壓的ACF粒子被絕緣薄膜包裹,所以不導電[15]。圖1-2電子顯微鏡下的ACF粒子ACF熱壓如圖1-3所示,熱壓后,ACF充當IC與玻璃基板、FPC與玻璃基板的導電介質。觸摸屏的電極和芯片的電極稱為bump,也稱為引腳。熱壓后的ACF粒子在熱壓時由于壓力和溫度的變化壓縮變形,表面絕緣層破裂,粒子在垂直方向變化為導電體,但是由于絕緣薄膜的存在以及ACF粒子的分散,在X、Y方向不導通,ACF表現(xiàn)出各向異性導電[16]的特點,觸摸屏電極和芯片電極略微凸起,所以bump

全自動ACF粒子檢測技術研究


ACF熱壓后的ACF


本文編號:3397833

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