氮化銦薄膜的p型摻雜和鐵磁性研究進(jìn)展
發(fā)布時(shí)間:2019-01-08 17:00
【摘要】:Ⅲ族氮化物半導(dǎo)體材料(InN、GaN、AlN)由于能帶結(jié)構(gòu)的特殊性,使其在光電器件與微波等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。其中,研究和發(fā)展InN材料及器件已被公認(rèn)是占領(lǐng)光電信息技術(shù)領(lǐng)域戰(zhàn)略至高點(diǎn)的重要途徑,InN材料的p型導(dǎo)電以及室溫鐵磁性研究更是成為Ⅲ族氮化物中新穎的研究課題。首先簡(jiǎn)單介紹InN的晶體結(jié)構(gòu)和制備方法,并分析其目前所遇到的挑戰(zhàn),然后重點(diǎn)闡述國(guó)際上關(guān)于InN在p型摻雜以及鐵磁性領(lǐng)域的研究進(jìn)展,同時(shí)介紹本課題組在該方面的研究,最后進(jìn)行了簡(jiǎn)要總結(jié)和展望。
[Abstract]:Because of the particularity of band structure, 鈪,
本文編號(hào):2404880
[Abstract]:Because of the particularity of band structure, 鈪,
本文編號(hào):2404880
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