本文關(guān)鍵詞：一種糾單個(gè)閃存單元移位錯(cuò)誤碼的譯碼方法

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【摘要】：通過(guò)利用置換來(lái)表示閃存單元數(shù)據(jù)的等級(jí)調(diào)制編碼方案,可有效地提高閃速存儲(chǔ)設(shè)備所存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的可靠性,而成為閃速數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)差錯(cuò)控制編碼的一個(gè)重要技術(shù).基于置換碼的交織,提出了一種可以糾單個(gè)閃存單元等級(jí)"移位錯(cuò)誤"的等級(jí)調(diào)制糾錯(cuò)碼的構(gòu)造方法.在深入分析置換理論性質(zhì)的基礎(chǔ)上,給出了該等級(jí)調(diào)制糾錯(cuò)碼的相應(yīng)譯碼方法.
【作者單位】： 西安電子科技大學(xué)計(jì)算機(jī)學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 置換碼 閃存 等級(jí)調(diào)制 糾錯(cuò)碼
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61271004,61471286)
【分類號(hào)】：TP333
【正文快照】： 近10年以來(lái),對(duì)置換碼(permutation codes)的研究受到了許多學(xué)者的普遍關(guān)注[1-3].置換碼經(jīng)歷了一次強(qiáng)力的復(fù)蘇,這主要是由于陸續(xù)發(fā)現(xiàn)了置換碼在電力線數(shù)據(jù)傳輸[4]和多級(jí)閃存[5]等領(lǐng)域的新應(yīng)用.閃存面臨的一個(gè)主要問(wèn)題是存儲(chǔ)單元數(shù)據(jù)的可靠性.閃存中所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)可能受到電荷泄

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前3條

1 楊禮珍;置換碼的界及構(gòu)造的研究[D];上海交通大學(xué);2007年

2 張一煒;源于幾類信息科學(xué)問(wèn)題的極值組合構(gòu)型[D];浙江大學(xué);2016年

3 袁媛;自對(duì)偶置換碼和m-重量[D];武漢大學(xué);2005年

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本文編號(hào)：940899