本文關(guān)鍵詞：ONFI閃存標(biāo)準(zhǔn)測試解決方案

  更多相關(guān)文章： 測試解決方案 ONFI 插補(bǔ)器 泰克公司 NAND 工作電壓 高數(shù)據(jù)速率 測試工程師 電氣測量 參數(shù)模型

【摘要】：正泰克公司日前為開放的NAND閃存接口(ONFI)標(biāo)準(zhǔn)推出首個(gè)測試解決方案。ON FI 4.0測試解決方案適用于泰克高性能示波器,包括在ONFI總線上分析D D R2/3模式的軟件,以及基于插補(bǔ)器(Interposers)的高效探測解決方案。ONFI 4.0規(guī)范引入不斷進(jìn)化的NV-DDR3接口,其工作電壓為VccQ=1.2V,不僅提高了性能,還改善了功耗,并把NV-DDR2和1NV-DDR3I/O速度擴(kuò)展到667MT/s和800MT/s,增加了ZQ校準(zhǔn)功能。由于速度提高和電壓下降,處理ONFI總線的設(shè)計(jì)人員面臨著諸多挑
【關(guān)鍵詞】： 測試解決方案;ONFI;插補(bǔ)器;泰克公司;NAND;工作電壓;高數(shù)據(jù)速率;測試工程師;電氣測量;參數(shù)模型;
【分類號】：TP333
【正文快照】： 泰克公司日前為開放的NAND閃存接口(ONFI)標(biāo)準(zhǔn)推出首個(gè)測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案適用于泰克高性能示波器,包括在ONFI總線上分析DDR2/3模式的軟件,以及基于插補(bǔ)器(Interposers)的氋效探測解決方案。 ■ —— ,r?,r-■I tow 0·'·? '1 ??? !■??· 4:ii s: IlJ_s_

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