本文關鍵詞：基于VMM的USB3.0物理層數(shù)字部分的驗證

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【摘要】：隨著科技的進步，電子類產品種類日新月異，功能不斷強大。隨之而來，這些產品內部的芯片也越來越復雜。不僅設計不斷面臨著挑戰(zhàn)，驗證同樣壓力倍增。并且，面對日趨復雜的設計，驗證正在成為芯片設計開發(fā)中工作量最大的部分。因此，IC公司逐漸將目光由傳統(tǒng)的基于verilog的驗證方法轉移到更具有重用性，擴展性，，高覆蓋率的基于SystemVerilog的驗證方法上。VMM就是其中最前沿的高級驗證方法之一。 多媒體時代的來臨帶來了高帶寬的數(shù)據(jù)傳輸需求。因此，USB不斷地進行升級。USB3.0帶寬已提升為5Gbps，是USB1.1最高傳輸位速率的400多倍。越來越多的電子設備開始攜帶USB3.0接口。 本文基于synopsys開發(fā)的VMM驗證方法，對USB3.0中的物理層數(shù)字部分進行驗證，搭建了一個結構清晰、可重用、自對比的驗證平臺。同時，本文分析了物理層數(shù)字部分的功能點，對數(shù)據(jù)鏈路上可能出現(xiàn)的錯誤進行了功能性的覆蓋率檢測，并編寫相關的場景型激勵模型，完成了對物理層數(shù)字部分相關功能的仿真驗證。功能覆蓋率達到100%，條件覆蓋率達到96.89%，行覆蓋率達到98.24%，跳轉覆蓋率達到97.29%。 本文描述了功能覆蓋率、自對比功能、層次化驗證的使用。闡述功能覆蓋率導向、自對比功能和層次化驗證在搭建驗證平臺中的優(yōu)勢。并且，對USB3.0中的物理層數(shù)字部分進行功能性的描述。
【關鍵詞】：USB3.0的物理層 VMM驗證 場景型激勵
【學位授予單位】：西安電子科技大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2014
【分類號】：TP334.7
【目錄】：

• 摘要3-4
• Abstract4-7
• 第一章 緒論7-11
• 1.1 課題的背景及研究意義7-8
• 1.1.1 USB 的發(fā)展7
• 1.1.2 驗證方法的更新7-8
• 1.2 課題來源及目的8
• 1.3 本文的研究內容與章節(jié)安排8-11
• 第二章 VMM 驗證方法學11-15
• 2.1 SystemVerilog 概述11-12
• 2.2 VMM 驗證架構概述12-14
• 2.3 本章小結14-15
• 第三章 物理層功能架構15-39
• 3.1 USB3.0 簡介15-17
• 3.1.1 USB3.0 物理架構15-16
• 3.1.2 USB3.0 傳輸線16-17
• 3.2 物理層架構17-21
• 3.2.1 物理層功能概述17-18
• 3.2.2 數(shù)據(jù)路徑18-19
• 3.2.3 物理層接口信號描述19-21
• 3.3 物理層功能詳解21-34
• 3.3.1 時鐘21-22
• 3.3.2 復位22
• 3.3.3 功耗管理22-23
• 3.3.4 接收器檢測23-24
• 3.3.5 低頻周期性信號 (LFPS)24-25
• 3.3.6 TXONESZEROS25
• 3.3.7 時鐘容限補償25-27
• 3.3.8 錯誤檢測27-30
• 3.3.9 回環(huán)模式30-33
• 3.3.10 極性反轉33-34
• 3.3.11 控制信號總結34
• 3.4 數(shù)字部分劃分34-37
• 3.4.1 數(shù)字部分功能35-36
• 3.4.2 數(shù)字部分框圖36-37
• 3.4.3 數(shù)字部分接口信號37
• 3.5 本章小結37-39
• 第四章 模塊級驗證環(huán)境39-77
• 4.1 功能點提取39-44
• 4.2 驗證架構44-46
• 4.3 驗證平臺模塊解析46-72
• 4.3.1 驗證平臺結構47
• 4.3.2 驗證平臺構件47-72
• 4.4 驗證方法72-76
• 4.4.1 驗證路徑72-74
• 4.4.2 驗證舉例74-76
• 4.5 本章小結76-77
• 第五章 驗證結果77-91
• 5.1 功能驗證結果77-87
• 5.2 覆蓋率統(tǒng)計87-89
• 5.2.1 功能覆蓋率87-88
• 5.2.2 代碼覆蓋率88-89
• 5.3 本章小結89-91
• 第六章 總結及展望91-93
• 6.1 總結91
• 6.2 不足91-92
• 6.3 展望92-93
• 致謝93-95
• 參考文獻95-97

【參考文獻】

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本文編號：735873