55nm SONOS存儲技術及關鍵電路研究
發(fā)布時間:2021-08-18 02:05
近年來,中國最大的進口貿易已被半導體產業(yè)所主導,非易失性存儲器在其中占據(jù)著重要地位。而浮柵存儲器作為非易失性存儲器的寵兒,一直引領著存儲器產業(yè)的高速發(fā)展。在浮柵存儲器基礎上發(fā)展而來的SONOS存儲器,因其一系列優(yōu)點,再次成為關注的焦點。SONOS存儲器使用較薄的O-N-O三層結構代替了浮柵存儲器中復雜的疊柵結構,因而更具有可縮小性;兼容CMOS工藝;只需要額外三層掩膜版,降低了SONOS的制造工藝復雜度和生產成本;較薄的氧化層厚度,使擦寫操作電壓更低,電荷泵更小;超過500K次的抗擦寫特性和20年的保持特性使存儲器性能更加可靠。諸多優(yōu)點使得SONOS存儲器得到了更為廣泛的應用,諸如MCU、SOC、FPGA、智能卡片等場所均能適用。本論文為中國科學院微電子研究所三室開發(fā)的一款SONOS存儲器的部分工作,芯片工藝采用標準55nm CMOS嵌入式存儲器工藝。本文主要包括SONOS存儲器的前期準備工作和部分關鍵電路模塊設計工作,并最終完成一款具有基本功能的存儲器芯片。本文首先對SONOS存儲器的基本特性與工作原理進行了介紹,針對應用場景,對SONOS存儲器的編程、擦除機制進行了選擇;其次,依托...
【文章來源】:安徽大學安徽省 211工程院校
【文章頁數(shù)】:84 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-1存儲器的結構分類示意圖??Fig.?1-1?Schematic?diagram?of?the?structure?classification?of?memory??
(a)納米晶存儲器剖面示意圖?(b)SONOS存儲器音IJ面示意圖??圖1-3納米晶和SONOS存儲器剖面示意圖??Fig.?1-3?Diagram?of?(a)?nano-ciystalline?and?(b)?SONOS?memory??1.2?SONOS存儲器的發(fā)展??近年來,電荷俘獲型存儲器發(fā)展迅速,與浮柵結構相比,兩者具有類似的結??構,需要在電荷存儲層存儲電荷信息,不同的是電荷俘獲型存儲器的存儲電荷分??散在電荷俘獲層的陷阱中。絕緣材料中存在大量的陷阱,所以通常使用SiCb、??Al2〇3、Si3N4等絕緣介質作為電荷俘獲層,而且陷阱中的電荷難以移動,從而有??效阻止了電荷的流失。??電荷俘獲型存儲器是第一個實現(xiàn)非易失性存儲的存儲器,在1967年被首次??發(fā)明提出,圖所示是電荷俘獲型存儲器的發(fā)展歷程[15]。??MNOS?SNOS?SONOS??多晶娃??■?|?丨"…一?■■?丨"■丨丨?I?多晶桂?|??!?氮化硅450A?氮化硅250
從而完成存儲或移除電子的操作。外加電場強度越大,勢壘形變越大,通過FN??隧穿的電荷就越多。而且,基于FN隧穿的擦寫操作是作用于整個溝道區(qū)電子的??“面操作”。作為SONOS器件常見的編程、擦除機制,其操作示意圖如圖2-1和??圖2-2所示。??vniocnnn??r??槺極??電荷俘獲層???w??\?阻擋茇化層?_??\?>魯,?平?^??VM)V?▲?A?Vd=OV?/??,?Ev??/I?I?A?襯底??_^y???Ec.?M????_ZJ?Ev?」??i?電荷@獲層?(??v^?v?『隧穿茇化層??(a)編程操作電壓7K意圖?(b)編程能帶7K意圖??圖2-1?FN隧穿示意圖??Fig.?2-1?Diagram?of?FN?tunneling,?(a)?programming?operation?voltage?and?(b)?energy?band??10??
本文編號:3348972
【文章來源】:安徽大學安徽省 211工程院校
【文章頁數(shù)】:84 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-1存儲器的結構分類示意圖??Fig.?1-1?Schematic?diagram?of?the?structure?classification?of?memory??
(a)納米晶存儲器剖面示意圖?(b)SONOS存儲器音IJ面示意圖??圖1-3納米晶和SONOS存儲器剖面示意圖??Fig.?1-3?Diagram?of?(a)?nano-ciystalline?and?(b)?SONOS?memory??1.2?SONOS存儲器的發(fā)展??近年來,電荷俘獲型存儲器發(fā)展迅速,與浮柵結構相比,兩者具有類似的結??構,需要在電荷存儲層存儲電荷信息,不同的是電荷俘獲型存儲器的存儲電荷分??散在電荷俘獲層的陷阱中。絕緣材料中存在大量的陷阱,所以通常使用SiCb、??Al2〇3、Si3N4等絕緣介質作為電荷俘獲層,而且陷阱中的電荷難以移動,從而有??效阻止了電荷的流失。??電荷俘獲型存儲器是第一個實現(xiàn)非易失性存儲的存儲器,在1967年被首次??發(fā)明提出,圖所示是電荷俘獲型存儲器的發(fā)展歷程[15]。??MNOS?SNOS?SONOS??多晶娃??■?|?丨"…一?■■?丨"■丨丨?I?多晶桂?|??!?氮化硅450A?氮化硅250
從而完成存儲或移除電子的操作。外加電場強度越大,勢壘形變越大,通過FN??隧穿的電荷就越多。而且,基于FN隧穿的擦寫操作是作用于整個溝道區(qū)電子的??“面操作”。作為SONOS器件常見的編程、擦除機制,其操作示意圖如圖2-1和??圖2-2所示。??vniocnnn??r??槺極??電荷俘獲層???w??\?阻擋茇化層?_??\?>魯,?平?^??VM)V?▲?A?Vd=OV?/??,?Ev??/I?I?A?襯底??_^y???Ec.?M????_ZJ?Ev?」??i?電荷@獲層?(??v^?v?『隧穿茇化層??(a)編程操作電壓7K意圖?(b)編程能帶7K意圖??圖2-1?FN隧穿示意圖??Fig.?2-1?Diagram?of?FN?tunneling,?(a)?programming?operation?voltage?and?(b)?energy?band??10??
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