在微納米級工藝中,嵌入式存儲器出現(xiàn)開路故障的概率增高,從而帶來動態(tài)故障。當(dāng)靜態(tài)故障與動態(tài)故障同時存在時,傳統(tǒng)的暫停導(dǎo)出內(nèi)建自測試設(shè)計雖然可以將故障診斷數(shù)據(jù)正確輸出,但存在診斷數(shù)據(jù)冗余的問題。因此,提出一種動態(tài)故障診斷數(shù)據(jù)壓縮的內(nèi)建自測試設(shè)計。在不影響診斷數(shù)據(jù)完好性的前提下,識別故障模式為行故障、列故障與單元故障,并對其診斷數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮解決診斷數(shù)據(jù)冗余的問題。仿真結(jié)果表明,該設(shè)計能夠正確壓縮動態(tài)故障診斷數(shù)據(jù),大幅度提高輸出效率,減少輸出時間,并且面積開銷較小。在8 K×16的存儲器的面積開銷為3.16%,20%行列故障與5%動態(tài)故障下診斷數(shù)據(jù)壓縮比為3.96%。 

【文章來源】：電子測量與儀器學(xué)報. 2020,34(07)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

存儲器故障示意圖

BIST流程

改進(jìn)診斷數(shù)據(jù)由4個部分組成,分別為故障地址、會話號、壓縮校正碼和有效位。不同故障模式診斷數(shù)據(jù)構(gòu)成如圖3所示。故障地址、會話號與PAE產(chǎn)生的診斷數(shù)據(jù)相同。壓縮校正碼比特數(shù)比PAE產(chǎn)生的校正碼小,這是因為比較壓縮了一些讀操作產(chǎn)生的冗余校正碼。有效位是在多個讀操作下,標(biāo)志診斷數(shù)據(jù)有效,一般為March元素檢測出動態(tài)故障的第一個讀操作產(chǎn)生,當(dāng)沒有檢測到動態(tài)故障時,為檢測出所有靜態(tài)故障的第一個讀操作產(chǎn)生。對于單元故障,該校正碼一般比原始校正碼短。行故障診斷數(shù)據(jù)需要記錄第一個和最后一個故障單元地址。由于具有相同的行地址,因此只需要多存儲最后一個故障單元的列地址。列故障診斷數(shù)據(jù)類似于行故障診斷數(shù)據(jù)。由于所有故障單元都在同一列中,因此只需要多存儲最后一個故障單元的行地址。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]兼顧熱優(yōu)化的TSV容錯設(shè)計[J]. 張阿敏,王春華,杜高明,李楨旻,馬世碧,曹舒婷.  電子測量與儀器學(xué)報. 2018(07)
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本文編號：3109955