發(fā)布時間：2020-08-24 08:37

【摘要】： 隨著超大規(guī)模集成電路(VLSI)技術(shù)的不斷成熟，芯片的集成度正按照摩爾定律的速度持續(xù)提高，芯片的測試問題已成為制約整個行業(yè)發(fā)展的瓶頸。在當前芯片的設(shè)計中，嵌入式存儲器所占的比重越來越大，因此對嵌入式存儲器的測試和診斷也顯得越來越重要。目前，從故障類型、測試設(shè)備及測試成本等方面考慮，用內(nèi)建自測試(BIST)技術(shù)對嵌入式存儲器進行測試是普遍采用的方法。 本文從研究系統(tǒng)芯片的可測試性設(shè)計理論出發(fā)，對可測性設(shè)計中的內(nèi)建自測試方法作了更為深入的研究，并對該領(lǐng)域的研究情況進行了介紹。在此基礎(chǔ)之上，本文分析了嵌入式存儲器內(nèi)建自測試技術(shù)的相關(guān)理論和方法，包括其故障模型與測試算法，重點剖析了March測試算法，并在已有算法的基礎(chǔ)上設(shè)計出了一種改進型的March測試算法——March-TBA。該算法通過增加六步讀(寫)操作，不但覆蓋了更多的測試過程中可區(qū)分的故障類型，增強了故障診斷能力，而且減少了測試所需要的時間。最后，利用ModelSim仿真軟件進行實驗仿真，將得出的實驗數(shù)據(jù)與已有算法的實驗數(shù)據(jù)進行對比分析，結(jié)果表明改進后的算法的故障覆蓋率更高，從而驗證了該算法的有效性。
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工程大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2007
【分類號】：TP333

【引證文獻】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前9條

1 李嘉銘;嵌入式存儲器在線容錯技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2011年

2 徐金榮;基于BIST的嵌入式存儲器可測性設(shè)計研究[D];北京交通大學(xué);2008年

3 宋毅;嵌入式隨機存儲器測試研究及仿真[D];湖南大學(xué);2008年

4 鄧吉建;基于March C+算法的MBIST設(shè)計[D];貴州大學(xué);2008年

5 曾慧;改進型March算法在內(nèi)存異常檢測中的應(yīng)用[D];廈門大學(xué);2008年

6 白石;嵌入式存儲器的可測性設(shè)計及測試算法研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2009年

7 齊娜;適用于MRAM的集成電路測試方法研究[D];中國石油大學(xué);2010年

8 張顯敞;存儲器測試算法研究及應(yīng)用實現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2013年

9 柳玉波;SoC嵌入式Flash的內(nèi)建自測試方法的研究與實現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2013年

本文編號：2802237