超高密度信息存儲(chǔ)及某些材料的STM研究
發(fā)布時(shí)間:2020-06-20 09:02
【摘要】:半導(dǎo)體工業(yè)發(fā)展的強(qiáng)烈要求直接推動(dòng)了納米科學(xué)與技術(shù)的發(fā)展。隨著信息時(shí)代的到來(lái),超高密度信息存儲(chǔ)器件已成為迫切的實(shí)際需求。超高密度信息存儲(chǔ)及其相關(guān)技術(shù)的研究已成為目前最重要的研究課題之一,它是納米電子學(xué)的重要研究?jī)?nèi)容,是超高密度信息存儲(chǔ)器件的基礎(chǔ)。 我們?cè)O(shè)計(jì)、選擇及合成幾種具有自己特色和實(shí)際應(yīng)用前景的超高密度信息存儲(chǔ)有機(jī)材料。根據(jù)不同材料,選擇合適的基片,摸索薄膜沉積技術(shù),研制較大面積均勻平整的超高密度電學(xué)信息存儲(chǔ)薄膜。以掃描探針顯微鏡(SPM)技術(shù)為主,研究薄膜的信息存儲(chǔ)條件及存儲(chǔ)特性,如最小信息點(diǎn)的尺寸,穩(wěn)定性,信息點(diǎn)形成的時(shí)間等。同時(shí),研究超高密度信息存儲(chǔ)點(diǎn)陣的寫(xiě)入技術(shù),進(jìn)行較大面積超高密度信息點(diǎn)陣的存儲(chǔ)。并對(duì)信息存儲(chǔ)點(diǎn)陣的特性及其記錄機(jī)制進(jìn)行初步探索。 以前,我們實(shí)驗(yàn)室采用有機(jī)復(fù)合薄膜作為電學(xué)信息存儲(chǔ)材料,包括全有機(jī)復(fù)合薄膜和納米粒子與有機(jī)物復(fù)合薄膜,主要利用薄膜的電學(xué)雙穩(wěn)態(tài)特性,通過(guò)分子間的電荷轉(zhuǎn)移實(shí)現(xiàn)信息存儲(chǔ)。但是,采用有機(jī)復(fù)合薄膜作為存儲(chǔ)介質(zhì),薄膜的制備比較復(fù)雜,配比難以精確控制;另外也很難得到高平整的復(fù)合薄膜,而高平整度的薄膜是進(jìn)行較大面積超高密度信息存儲(chǔ)的重要條件。因此我們把注意力投向單體有機(jī)薄膜,從有機(jī)大分子材料到有機(jī)小分子材料、從同一種分子中既含有強(qiáng)電子給體基團(tuán)又含有強(qiáng)電子受體基團(tuán)的單體有機(jī)材料到同一種分子中只含強(qiáng)電子給體基團(tuán)或強(qiáng)電子受體基團(tuán)的單體有機(jī)材料都進(jìn)行了研究。本論文主要介紹在3-phenyl-1-ureidonitrile(PUN)和ρ-nitrobenzonitrile(PNBN)兩種有機(jī)單體薄膜材料上進(jìn)行超高密度信息存儲(chǔ)研究所取得的結(jié)果。 采用STM在3-phenyl-1-ureidonitrile(PUN)有機(jī)單體薄膜上進(jìn)行了超高密度信息存儲(chǔ)的研究。PUN薄膜具有電學(xué)雙穩(wěn)態(tài)特性,當(dāng)在STM針尖和HOPG襯底之間施加電壓脈沖時(shí),在外力作用下,PUN分子中的腈基(C≡N)的π鍵有可能斷裂形成—C=N—,引起PUN分子局域聚合,使得薄膜局部區(qū)域的電導(dǎo)發(fā)生變化,從而實(shí)現(xiàn)信息點(diǎn)的存儲(chǔ)。通過(guò)改進(jìn)PUN薄膜的制備工藝,得到了大面
【學(xué)位授予單位】:東北大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2001
【分類(lèi)號(hào)】:TP333
【圖文】:
當(dāng)沒(méi)有偏壓并達(dá)到平衡時(shí),兩個(gè)電極由于電子隧穿所產(chǎn)生的隧道電流密度大小相等但方向相反,因此總的隧道電流為零。當(dāng)在兩個(gè)電極之間加一個(gè)小的偏壓時(shí)(如圖1.2b()所示),兩個(gè)電極由于電子隧穿所產(chǎn)生的隧道電流密度不再相同,從而形成一個(gè)凈隧穿電流密度:一贏‘(‘一含·。Pxe[一,一(,+合·F,ePx〔一2Zm(,一合·獷)‘”25,Zm(
如果兩個(gè)電極都是金屬,則I一V曲線是一條直線。如果一個(gè)電極是金屬,另一個(gè)電極是半導(dǎo)體,則I一V曲線會(huì)出現(xiàn)一個(gè)閩值。相應(yīng)的能級(jí)示意圖及I一V曲線如圖1.4所示。(a)兩個(gè)電極都是金屬,I一V曲線線性的。(b)一個(gè)電極是金屬,另一個(gè)電極是半導(dǎo)體是,I一V曲線出現(xiàn)一個(gè)閉值。在做STS實(shí)驗(yàn)時(shí),我們的目的是為了獲得樣品的電子態(tài)密度,因此我們需要具有恒定電子態(tài)密度的針尖,或具有自由電子的金屬針尖。在這種情況下,由式(l.15)可以得到器優(yōu)p·E(廠·F,幾’(1.16)因此動(dòng)態(tài)電導(dǎo)正比于樣品的電子態(tài)密度。
本文編號(hào):2722192
【學(xué)位授予單位】:東北大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2001
【分類(lèi)號(hào)】:TP333
【圖文】:
當(dāng)沒(méi)有偏壓并達(dá)到平衡時(shí),兩個(gè)電極由于電子隧穿所產(chǎn)生的隧道電流密度大小相等但方向相反,因此總的隧道電流為零。當(dāng)在兩個(gè)電極之間加一個(gè)小的偏壓時(shí)(如圖1.2b()所示),兩個(gè)電極由于電子隧穿所產(chǎn)生的隧道電流密度不再相同,從而形成一個(gè)凈隧穿電流密度:一贏‘(‘一含·。Pxe[一,一(,+合·F,ePx〔一2Zm(,一合·獷)‘”25,Zm(
如果兩個(gè)電極都是金屬,則I一V曲線是一條直線。如果一個(gè)電極是金屬,另一個(gè)電極是半導(dǎo)體,則I一V曲線會(huì)出現(xiàn)一個(gè)閩值。相應(yīng)的能級(jí)示意圖及I一V曲線如圖1.4所示。(a)兩個(gè)電極都是金屬,I一V曲線線性的。(b)一個(gè)電極是金屬,另一個(gè)電極是半導(dǎo)體是,I一V曲線出現(xiàn)一個(gè)閉值。在做STS實(shí)驗(yàn)時(shí),我們的目的是為了獲得樣品的電子態(tài)密度,因此我們需要具有恒定電子態(tài)密度的針尖,或具有自由電子的金屬針尖。在這種情況下,由式(l.15)可以得到器優(yōu)p·E(廠·F,幾’(1.16)因此動(dòng)態(tài)電導(dǎo)正比于樣品的電子態(tài)密度。
【參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前3條
1 時(shí)東霞,宋延林,張昊旭,解思深,龐世瑾,高鴻鈞;有機(jī)單體3-phenyl-1-ureidonitrile薄膜的超高密度信息存儲(chǔ)[J];物理學(xué)報(bào);2001年02期
2 薛增泉;納米電子學(xué)[J];現(xiàn)代科學(xué)儀器;1998年Z1期
3 張立德;納米測(cè)量學(xué)的發(fā)展與展望[J];現(xiàn)代科學(xué)儀器;1998年Z1期
本文編號(hào):2722192
本文鏈接:http://www.sikaile.net/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/2722192.html
最近更新
教材專(zhuān)著