【摘要】： 存儲模塊在嵌入式系統(tǒng)中有著廣泛的應(yīng)用,由于嵌入式產(chǎn)品一般都要求便攜并且低功耗,因此NAND Flash是最佳選擇。論文課題在福華微電子自主研發(fā)的FS7805的平臺上設(shè)計和實現(xiàn)了基于FAT文件系統(tǒng)的NAND Flash嵌入式存儲模塊。論文完整地總結(jié)了作者的工作成果,并詳細(xì)闡述了APLIF驅(qū)動層和NAND Flash驅(qū)動層實現(xiàn)這兩個關(guān)鍵問題的解決方法。 在APLIF驅(qū)動層實現(xiàn)部分,作者重點介紹了如何通過配置FS7805中APLIF模塊的寄存器生成需要的時序,并且給出了如何控制NAND Flash操作的波形描述寄存器的配置方法。 在NAND Flash驅(qū)動層實現(xiàn)部分,在分析NAND Flash操作流程的基礎(chǔ)上,重點對均勻擦除、速度優(yōu)化、地址映射、碎片整理以及ECC等方面進行了詳細(xì)敘述。 論文課題設(shè)計和實現(xiàn)的嵌入式存儲模塊目前已經(jīng)成功地應(yīng)用在指紋加密優(yōu)盤和網(wǎng)絡(luò)小靈通等嵌入式設(shè)備中,雖然實際測試結(jié)果表明速度上和目前專業(yè)的存儲設(shè)備還存在差距,但是在特定的領(lǐng)域有著自己的優(yōu)勢。
【圖文】：

NANDFlash結(jié)構(gòu)

時鐘周期來完成。之后是擦除確認(rèn)指令D0h，它用來初始化內(nèi)部擦除操作。擦除確認(rèn)命令用來防止外部干擾產(chǎn)生意外擦除的情況發(fā)生。器件檢測到擦除確認(rèn)命令輸入后在WE 的上升沿開始執(zhí)行擦除和擦除校驗。內(nèi)部擦除操作完成后，，應(yīng)該檢測寫狀態(tài)位(I/O1)，從而判斷擦除操作是否有錯誤發(fā)生。3.3 硬件電路設(shè)計硬件電路設(shè)計是搭建在 FS7805 開發(fā)板的基礎(chǔ)上的，F(xiàn)S7805 的 APLIF 引腳圖和電源供給模塊分別如圖 3-3 和 3-4 所示。
【學(xué)位授予單位】：蘇州大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2008
【分類號】：TP333

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本文編號：2676613