【摘要】： 本文針對狹小緊湊環(huán)境下的高沖擊加速度存儲測試,研制了基于串行閃存的微型存儲測試系統(tǒng),主要從以下三個方面進(jìn)行了研究:(1)對在設(shè)計過程中面臨的微型化、抗高沖擊、高精度及在受到惡劣環(huán)境作用下信號有效保存等關(guān)鍵技術(shù)問題,有針對性的進(jìn)行分析并采取相關(guān)措施進(jìn)行優(yōu)化;(2)對整個存儲測試系統(tǒng)的硬件設(shè)計從方案制定到硬件電路模塊化設(shè)計都進(jìn)行詳細(xì)的闡述;(3)對硬件電路中的核心控制器CPLD按功能進(jìn)行模塊化設(shè)計及時序的仿真驗證。 本文對串行閃存SST25VF032B寫入數(shù)據(jù)的最快時間進(jìn)行了深入的理論分析,并結(jié)合實際電路調(diào)試,得出結(jié)論:在兩片串行閃存交替存儲數(shù)據(jù)時系統(tǒng)最大采樣頻率可達(dá)180kHz,每一片閃存寫入一個字的時間應(yīng)大于11.12μs。該系統(tǒng)針對持續(xù)時間為ms級的高沖擊加速度信號可以很好的實現(xiàn)采集存儲。若采用多片閃存交替存儲數(shù)據(jù),還可進(jìn)一步提高系統(tǒng)的采樣頻率。
【學(xué)位授予單位】：中北大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2010
【分類號】：TP333

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號：2652824