高性能處理器層次化可重用模擬驗(yàn)證環(huán)境
發(fā)布時(shí)間:2019-11-08 21:35
【摘要】:高性能處理器的多核化和So C(system on chip)集成化發(fā)展趨勢(shì),使得處理器芯片設(shè)計(jì)復(fù)雜度和規(guī)模成倍增長(zhǎng),平面式的模擬驗(yàn)證環(huán)境在消耗大量機(jī)器資源的同時(shí)模擬速度急劇下降,嚴(yán)重影響模擬驗(yàn)證效率,而當(dāng)前模擬驗(yàn)證仍是處理器驗(yàn)證中最廣泛的驗(yàn)證手段.為提高模擬驗(yàn)證效率,必須建立高效的處理器模擬環(huán)境.根據(jù)高性能處理器架構(gòu)特點(diǎn),基于可重用驗(yàn)證組件開(kāi)發(fā)思想,建立層次化可重用的處理器模擬驗(yàn)證環(huán)境,可有效解決高性能處理器模擬驗(yàn)證中內(nèi)存消耗大、模擬速度慢、驗(yàn)證效率低等問(wèn)題.這種環(huán)境創(chuàng)建方法可以縮短環(huán)境創(chuàng)建和調(diào)試周期,減少環(huán)境自身錯(cuò)誤,有利于不同處理器驗(yàn)證環(huán)境的可重用.
本文編號(hào):2558055
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1 李明仁,李思],陳福接;一個(gè)GA、MCA設(shè)計(jì)的模擬驗(yàn)證環(huán)境[J];計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào);1991年05期
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