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基于VMM的ALU驗(yàn)證

發(fā)布時(shí)間:2018-04-25 16:10

  本文選題:System + Verilog; 參考:《現(xiàn)代電子技術(shù)》2015年07期


【摘要】:基于VMM方法學(xué)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)了一個(gè)隨機(jī)驗(yàn)證環(huán)境,驗(yàn)證一個(gè)64位ALU。該驗(yàn)證環(huán)境具備一套功能完備的隨機(jī)測(cè)試程序發(fā)生器,可以生成覆蓋率指導(dǎo)的有約束的定點(diǎn)、浮點(diǎn)指令序列,調(diào)用一個(gè)由C語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)的參考模型進(jìn)行運(yùn)算結(jié)果自檢,并采用覆蓋率收斂技術(shù)實(shí)現(xiàn)覆蓋率快速收斂。實(shí)踐結(jié)果表明,設(shè)計(jì)的隨機(jī)驗(yàn)證環(huán)境,能夠高效驗(yàn)證ALU的各項(xiàng)邏輯功能,減少測(cè)試時(shí)間,且隨機(jī)測(cè)試程序生成模塊可以簡(jiǎn)單移植應(yīng)用于處理器其他模塊的功能驗(yàn)證。
[Abstract]:A random verification environment based on VMM methodology is designed and implemented to verify a 64 bit ALU. The verification environment has a set of random test program generator with complete function, which can generate constrained fixed-point, floating-point instruction sequence guided by coverage, and call a reference model realized by C language for self-checking of operation results. The fast convergence of coverage is realized by using coverage convergence technique. The practical results show that the designed random verification environment can efficiently verify the logic functions of ALU and reduce the test time, and the random test program generation module can be easily transplanted to other modules of the processor for functional verification.
【作者單位】: 桂林電子科技大學(xué)電子工程及自動(dòng)化學(xué)院;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金(51465011)
【分類(lèi)號(hào)】:TP332

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào):1802049

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