發(fā)布時(shí)間：2018-04-19 08:50

  本文選題：可靠性評(píng)估 + 容錯(cuò)技術(shù)�。� 參考：《微電子學(xué)》2015年02期

【摘要】：隨著工藝節(jié)點(diǎn)的不斷降低,存儲(chǔ)器的軟錯(cuò)誤率呈指數(shù)趨勢(shì)上升,容錯(cuò)技術(shù)已成為存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)中的重要環(huán)節(jié)。依據(jù)美國(guó)NASA Rosetta實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),對(duì)錯(cuò)誤檢糾錯(cuò)碼(EDAC:Error Detection and Correction)和不同的在線刷新模式組成的多種容錯(cuò)方案進(jìn)行可靠性建模與量化評(píng)估,提出了不同工藝節(jié)點(diǎn)下嵌入式存儲(chǔ)器容錯(cuò)技術(shù)選擇的判據(jù)方法。在地面單粒子模擬實(shí)驗(yàn)中進(jìn)行驗(yàn)證,結(jié)果表明,該方法預(yù)測(cè)的失效率評(píng)估結(jié)果與實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果的平均偏差約為10.3%。
[Abstract]:With the decrease of process nodes, the soft error rate of memory increases exponentially, and fault-tolerant technology has become an important part of memory design.Based on the experimental data of NASA Rosetta in the United States, the reliability modeling and quantitative evaluation of several fault-tolerant schemes composed of error detection and error Detection and correction (EDAC: error Detection Correction) and different online refresh modes are carried out.A criterion method for fault tolerance selection of embedded memory under different process nodes is presented.The experimental results show that the average deviation between the predicted failure rate and the experimental results is about 10.3.
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院電子學(xué)研究所;中國(guó)科學(xué)院大學(xué);
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61204045,61271149) 中國(guó)科學(xué)院、國(guó)家外國(guó)專(zhuān)家局創(chuàng)新團(tuán)隊(duì)國(guó)際合作伙伴計(jì)劃資助課題(2013ZX03006004)
【分類(lèi)號(hào)】：TP333

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前1條

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1772407