六西格瑪在S公司磁頭動態(tài)性能測試系統(tǒng)中的應用
本文關鍵詞:六西格瑪在S公司磁頭動態(tài)性能測試系統(tǒng)中的應用 出處:《華南理工大學》2014年碩士論文 論文類型:學位論文
更多相關文章: 非重復性偏移 顧客之聲 質量功能展開 發(fā)明問題解決理論 實驗設計
【摘要】:S公司是全球最大的獨立讀寫磁頭供應商,旗下產品覆蓋全球,主要供應給Seagate(希捷)Toshiba(東芝)、Hitachi(日立)、Western Digital(西部數(shù)據(jù))等世界各地數(shù)據(jù)儲存產品生產商。至目前為止,公司營業(yè)額占所有原件生產(OEM)讀寫磁頭市場的70%以上。為了降低測試成本,公司從2004年開始研究可重復利用的類HGA萬向節(jié)飛機仔i_HS飛機仔,從而大大的降低了公司的測試成本。隨著硬盤存儲密度以及數(shù)據(jù)速率的的不斷提高,對磁頭精確走位的控制PES(Position Error Signal)的要求也越來越高。怎樣改善測量機器的PES水平,,降低浪費對提高公司的競爭力有著重大意義。 本文選擇PES中的非重復性偏移NRRO作為研究對象,首先介紹了本公司的產品及現(xiàn)狀,分析了國內外磁頭精確走位的現(xiàn)狀。然后,運用六西格瑪設計質量工具方法輔助設計PES性能改善模塊,使該模塊在一開始階段就達到真正的六西格瑪質量水平。通過六西格瑪設計顧客之聲工具的收集得到顧客需求;通過六西格瑪設計的質量功能展開,將顧客需求轉換成產品的功能設計參數(shù),零件設計要求;并完成產品概念設計。在概念設計階段,運用發(fā)明問題解決理論,運用時間分離原則解決了系統(tǒng)的Pzt微致動器與聲發(fā)射AE偵測的物理沖突;運用矛盾矩陣,解決了磁碟轉速與磁頭精確走位控制問題。最后,通過實驗設計及實驗分析,確定了各關鍵參數(shù)的公差。 研究結果表明,在磁頭動態(tài)性能測試(SDPT)系統(tǒng)中,通過應用DSC系統(tǒng)、磁碟穩(wěn)定器系統(tǒng)和風擾破壞系統(tǒng),可以大幅度提高讀寫磁頭的定位精度,改善測試機器的穩(wěn)定性與可靠性,達到預期的目標。
【學位授予單位】:華南理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2014
【分類號】:TP333
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本文編號:1326784
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