本文關(guān)鍵詞：TMS320F28XX系列DSP測試方法研究與實現(xiàn)

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【摘要】：本項目是基于美國TI公司TMS320F28xx系列DSP,進(jìn)行的測試方法研究與實現(xiàn)。測試方法用于北京自動測試技術(shù)研究所自主研發(fā)的國產(chǎn)自測試設(shè)備(ATE)BC3192V50大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)。測試的原理是,通過TMS320F28xx系列DSP配備的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作為橋梁完成ATE與芯片之間的通信。同時,實現(xiàn)自動測試設(shè)備與測試系統(tǒng)的測試向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能測試以及直流參數(shù)測試。
【作者單位】： 集成電路測試技術(shù)北京市重點實驗室北京自動測試技術(shù)研究所;
【分類號】：TP332
【正文快照】： 0引言TMS320F28XX系列DSP集微控制器和高性能DSP的特點于一身,具有強大的控制和信號處理能力,能夠?qū)崿F(xiàn)復(fù)雜的控制算法,性能尤為以C28XX系列高精度數(shù)字信號處理器為最好。與并行接口相比,串行接口的最大特點是減少了器件引腳數(shù)目,降低了接口設(shè)計復(fù)雜性。目前所有的數(shù)字信號處理

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