本文關鍵詞：低速信號在傳輸線負載上的精確時序測量方法

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【摘要】：為了解決具有低速輸出信號的存儲器產(chǎn)品在帶有傳輸線負載的自動測試設備(ATE)上進行讀時序參數(shù)測量時而出現(xiàn)的超出允許范圍的測試誤差,一個基于傳輸線理論和RC,RLC電路模型的測試方法被推導并實現(xiàn)以達到在自動測試設備上的高精度測試。通過將自動測試設備IO輸出負載從傳輸線模型轉(zhuǎn)化為等效電容負載模型的方法,并利用RC,電流源,RLC電路模型進一步推導IO輸出信號在不同等效電容負載下的輸出電壓與時序關系,從而證明在自動測試設備的傳輸線負載條件下,始終存在一個IO電平判斷閾值,使得當測試設備使用該閾值判斷信號輸出’1’,’0’而測得的時序與在標準測試條件下測試的結(jié)果一致,且測試誤差可以接受。該閾值與供電電壓之比只與自動測試設備的負載和測試標準負載有關,且與被測芯片的輸出阻抗,環(huán)境溫度和不同芯片的時序性能等影響無關。仿真和芯片實驗結(jié)果與理論吻合,基于該方法的測試結(jié)果顯示所有被測芯片的性能結(jié)果不僅與測試標準負載條件下的預期值吻合,而且保留了芯片間的性能趨勢和每個芯片由于工藝或者電路調(diào)整擾動造成的性能影響。在不同電壓,溫度影響下,測試結(jié)果也符合預期,并和實際性能一致。在生產(chǎn)中,相比簡單的時序直接補償方法,此方法不會產(chǎn)生生產(chǎn)過程中的overkill和underkill,不僅滿足了生產(chǎn)測試的要求,也滿足了研發(fā)對于時序特性精確分析的需求。該算法提供了具有低速輸出信號的存儲器產(chǎn)品在帶有傳輸線負載的自動測試設備上的測試能力,解決了實驗室時序特性測試低精度和生產(chǎn)中低良品率的問題。
【關鍵詞】：自動測試設備 低速信號 傳輸線 RLC 測量誤差
【學位授予單位】：復旦大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2014
【分類號】：TP333
【目錄】：

• 摘要4-5
• ABSTRACT5-7
• 第一章 引言7-14
• 1.1 低速信號在傳輸線上的時序測量誤差綜述7-10
• 1.2 基于傳輸線負載的自動測試設備傳統(tǒng)讀時序測試方法及誤差分析10-14
• 第二章 文獻綜述14-22
• 2.1 測試設備負載的基本分析14
• 2.2 傳輸線反射信號的消除14-17
• 2.2.1 傳輸線的端接匹配14-16
• 2.2.2 傳輸線上的振鈴信號消除16-17
• 2.3 傳輸線特定條件下等效于集總電容17-19
• 2.3.1 傳輸線的電容等效17-18
• 2.3.2 基于多次反射的傳輸線介電常數(shù)的特性分析18
• 2.3.3 直接電容負載的測量18-19
• 2.4 源端輸出阻抗大于傳輸線特征阻抗下的傳輸線負載分析19-21
• 2.4.1 傳輸線負載校正19-20
• 2.4.2 帶有RC負載的傳輸線多次反射的分析20-21
• 2.5 解決方法的討論21-22
• 第三章 方法理論介紹22-37
• 3.1 非理想條件下傳輸線的電容等效22-23
• 3.2 被測芯片的輸出阻抗和輸出電流是時間的函數(shù)23-25
• 3.3 基本RC電路測試模型分析25-26
• 3.4 基于RC模型的信號電壓與電源電壓比的校準26-30
• 3.5 擴展方法：基于RC模型信號電壓與電源電壓比的非對齊校準30-32
• 3.6 基于電流源模型的信號電壓與電源電壓比的校準32-33
• 3.7 基于RLC過阻尼電路的信號電壓與電源電壓比的校準33-36
• 3.8 理論總結(jié)36-37
• 第四章 校準方法的工程應用37-41
• 4.1 利用工程方法計算真實的B及時序分解37-39
• 4.2 基于RC模型非對齊校準的工程實現(xiàn)方法39-41
• 第五章 實驗結(jié)果和結(jié)論41-51
• 5.1 采用BGA封裝產(chǎn)品的B和TPD-TDELAY測試結(jié)果分析41-44
• 5.1.1 采用BGA封裝產(chǎn)品的β分析42-43
• 5.1.2 采用BGA封裝的產(chǎn)品3V條件下Tpd-Tdelay測試結(jié)果分析43
• 5.1.3 采用BGA封裝的產(chǎn)品1.8V條件下Tpd-Tdelay測試結(jié)果分析43-44
• 5.2 采用TSOP封裝產(chǎn)品的B和TPD-TDELAY測試結(jié)果分析44-45
• 5.3 批量測試結(jié)果的分析45-49
• 5.4 結(jié)論49-51
• 第六章 展望51-53
• 參考文獻53-55
• 致謝55-57

【參考文獻】

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本文編號：1096354