目的利用壽命預(yù)測(cè)技術(shù)定期對(duì)測(cè)控裝備的狀態(tài)進(jìn)行評(píng)估,挖掘裝備潛在使用價(jià)值,降低出現(xiàn)故障的風(fēng)險(xiǎn),為裝備的更新維護(hù)提供參考依據(jù)。方法分析測(cè)控裝備的特點(diǎn),針對(duì)性地選用基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的壽命預(yù)測(cè)技術(shù),并重點(diǎn)分析基于Weibull分布的測(cè)控裝備的壽命預(yù)測(cè)方法。結(jié)果通過數(shù)學(xué)公式推導(dǎo),給出了采用最大似然估計(jì)法對(duì)二參數(shù)Weibull分布進(jìn)行參數(shù)估計(jì)時(shí)的求解方法。結(jié)論對(duì)測(cè)控裝備的壽命預(yù)測(cè)和可靠性評(píng)估提供科學(xué)的參考依據(jù)。 

【文章來源】：裝備環(huán)境工程. 2020,17(07)

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

基于退化軌跡的壽命預(yù)測(cè)方法預(yù)測(cè)步驟

測(cè)控裝備主要分為六大類：遙測(cè)裝備、遙控裝備、無線電跟蹤測(cè)量裝備、光學(xué)跟蹤測(cè)量裝備和通信裝備等[8]。各部分共同擔(dān)負(fù)起測(cè)控保障任務(wù)，整個(gè)系統(tǒng)構(gòu)成復(fù)雜。不同部件的故障機(jī)理不同導(dǎo)致壽命分布不同，而整套裝備的剩余壽命取決于系統(tǒng)內(nèi)所有部件壽命的短板。在壽命管理過程中，一方面通過各傳感器獲取的測(cè)量參數(shù)反映裝備中各部件或板卡的工作狀態(tài)信息，通過這些散件的工作狀態(tài)信息推測(cè)各分系統(tǒng)或整機(jī)的工作狀態(tài)。文獻(xiàn)[1]給出了某型脈沖雷達(dá)設(shè)備結(jié)構(gòu)連接及各狀態(tài)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，如圖2所示。從圖2中可以看出，整型裝備由多個(gè)分系統(tǒng)構(gòu)成，各分系統(tǒng)又由多個(gè)部件構(gòu)成，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜，針對(duì)不同型號(hào)的測(cè)控裝備需要建立不同設(shè)備狀態(tài)及結(jié)構(gòu)網(wǎng)絡(luò)，針對(duì)性較強(qiáng)。另一方面以各分系統(tǒng)或整機(jī)為單元，根據(jù)裝備使用的歷史數(shù)據(jù)，如工作時(shí)間、出現(xiàn)故障時(shí)間、故障原因等推測(cè)故障率在時(shí)間維度上出現(xiàn)的概率。采用“黑箱”方法，對(duì)各型裝備均具有一定的適應(yīng)性，但該方法在數(shù)據(jù)量上有一定的要求。結(jié)合測(cè)控裝備種類繁多的特點(diǎn)，選擇測(cè)控裝備壽命預(yù)測(cè)算法時(shí)應(yīng)考慮以下兩點(diǎn)：測(cè)控裝備構(gòu)成復(fù)雜，涉及到的參數(shù)繁多，不同裝備建立的性能衰變模型不同，且模型不易精確建立；測(cè)控裝備在靶場(chǎng)使用過程中并不是頻繁地發(fā)生故障，部分分系統(tǒng)或整機(jī)故障歷史樣本數(shù)據(jù)不足。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于故障機(jī)理和偽失效壽命的電子產(chǎn)品剩余壽命預(yù)測(cè)[J]. 楊立峰,呂衛(wèi)民,肖陽.  海軍航空工程學(xué)院學(xué)報(bào). 2017(02)
[2]基于貝葉斯模型的裝備剩余壽命預(yù)測(cè)研究[J]. 劉剛,黎放.  火力與指揮控制. 2016(05)
[3]基于AMSAA和MTBF-T模型評(píng)估電子設(shè)備使用壽命[J]. 邱勝順,張明,呂勤.  電氣自動(dòng)化. 2014(05)
[4]靶場(chǎng)測(cè)控裝備狀態(tài)及故障預(yù)測(cè)方法[J]. 馬順南,王強(qiáng).  電訊技術(shù). 2014(09)
[5]基于支持向量回歸的現(xiàn)代氣象雷達(dá)壽命預(yù)測(cè)[J]. 方睿,李享梅,涂愛琴.  電訊技術(shù). 2012(10)
[6]機(jī)械重大裝備壽命預(yù)測(cè)綜述[J]. 張小麗,陳雪峰,李兵,何正嘉.  機(jī)械工程學(xué)報(bào). 2011(11)
[7]二參數(shù)威布爾分布情況下可靠性隨機(jī)截尾數(shù)據(jù)處理方法的仿真分析[J]. 王自濤,和玲.  電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 1998(05)

碩士論文
[1]基于可靠性分析的剩余壽命評(píng)估方法研究[D]. 王艷榮.西安電子科技大學(xué) 2015



本文編號(hào)：3541410