膠體粒子掩膜電沉積制備微坑陣列仿真與實(shí)驗(yàn)研究
發(fā)布時(shí)間:2022-05-03 05:35
帶有微結(jié)構(gòu)陣列的功能性表面由于其潤濕性、生物相容性和減壓耐磨等特殊的性能而被廣泛應(yīng)用于眾多的科學(xué)領(lǐng)域中,其表面微納織構(gòu)的制作方法備受國內(nèi)外研究者的關(guān)注,F(xiàn)有的微結(jié)構(gòu)制作方法受制于加工工藝和掩膜制作方法的限制,僅適用于平面和規(guī)則的曲面上微結(jié)構(gòu)的制作,而在復(fù)雜的不規(guī)則曲面上制作微結(jié)構(gòu)陣列成為加工業(yè)的難題。對(duì)此,本文中提出以膠體粒子為掩膜并結(jié)合電沉積在工件表面上快速制作微坑陣列的工藝,以期解決不規(guī)則曲面工件表面掩膜貼合和微結(jié)構(gòu)陣列制作問題。主要研究內(nèi)容和結(jié)果如下:(1)數(shù)值仿真研究。建立膠體粒子掩膜電沉積制作微坑的仿真模型,并分別在一次、二次和三次電流密度下進(jìn)行仿真模擬。仿真結(jié)果表明:受到電流密度分布的影響,在一次電流密度下得到的沉積層比較粗糙,且得到的微坑結(jié)構(gòu)不規(guī)則;在二次電流密度下可得到平滑的曲面沉積層和圓形的微坑結(jié)構(gòu);三次電流密度仿真則可以得到近似平面的沉積層和圓形的微坑結(jié)構(gòu)。(2)平面膠體粒子掩膜輔助電沉積實(shí)驗(yàn)。在平面工件表面采用電泳自組裝方法制備膠體粒子掩膜,并以膠體粒子為掩膜進(jìn)行電沉積。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:采用電泳自組裝可在平面工件表面得到膠體粒子掩膜,通過控制電泳的電壓和時(shí)間可獲得質(zhì)...
【文章頁數(shù)】:92 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
致謝
摘要
Abstract
符號(hào)表
1 緒論
1.1 研究背景及意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.2.1 掩膜輔助加工研究現(xiàn)狀
1.2.2 膠體粒子掩膜輔助加工
1.3 主要研究內(nèi)容和創(chuàng)新點(diǎn)
1.3.1 主要研究內(nèi)容
1.3.2 主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn)
2 粒子掩膜電沉積仿真研究
2.1 電沉積相關(guān)理論
2.1.1 電沉積工藝及原理
2.1.2 電沉積過程中電場(chǎng)分析
2.1.3 電沉積過程中極化分析
2.2 建立數(shù)值仿真模型
2.2.1 建立幾何模型
2.2.2 假設(shè)條件和控制方程
2.3 數(shù)值仿真計(jì)算
2.3.1 一次電流密度仿真
2.3.2 二次電流密度仿真
2.3.3 三次電流密度仿真
2.4 本章小結(jié)
3 平面工件表面粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)研究
3.1 電泳自組裝制備粒子掩膜
3.1.1 實(shí)驗(yàn)材料
3.1.2 實(shí)驗(yàn)過程
3.1.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
3.2 粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)
3.2.1 實(shí)驗(yàn)材料和實(shí)驗(yàn)條件
3.2.2 實(shí)驗(yàn)流程
3.2.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
3.3 微坑陣列形貌及均勻性研究
3.3.1 電沉積時(shí)間的影響
3.3.2 電流密度的影響
3.3.3 微坑陣列均勻性改善措施
3.4 本章小結(jié)
4 曲面工件表面粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)研究
4.1 曲面表面粒子掩膜的制作
4.1.1 實(shí)驗(yàn)材料
4.1.2 實(shí)驗(yàn)流程
4.1.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.2 粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)
4.2.1 實(shí)驗(yàn)流程
4.2.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.3 本章小結(jié)
5 微坑陣列性能評(píng)價(jià)
5.1 潤濕性相關(guān)理論
5.2 平面沉積層潤濕性測(cè)量
5.2.1 微坑中心距L=10μm
5.2.2 微坑中心距L=5μm
5.2.3 微坑中心距L=1μm
5.3 曲面沉積層潤濕性測(cè)試
5.3.1 基底曲率對(duì)潤濕性的影響
5.3.2 微坑尺寸對(duì)潤濕性的影響
5.4 本章小結(jié)
6 結(jié)論與展望
6.1 結(jié)論
6.2 展望
參考文獻(xiàn)
作者簡(jiǎn)歷
學(xué)位論文數(shù)據(jù)集
本文編號(hào):3650730
【文章頁數(shù)】:92 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
致謝
摘要
Abstract
符號(hào)表
1 緒論
1.1 研究背景及意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.2.1 掩膜輔助加工研究現(xiàn)狀
1.2.2 膠體粒子掩膜輔助加工
1.3 主要研究內(nèi)容和創(chuàng)新點(diǎn)
1.3.1 主要研究內(nèi)容
1.3.2 主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn)
2 粒子掩膜電沉積仿真研究
2.1 電沉積相關(guān)理論
2.1.1 電沉積工藝及原理
2.1.2 電沉積過程中電場(chǎng)分析
2.1.3 電沉積過程中極化分析
2.2 建立數(shù)值仿真模型
2.2.1 建立幾何模型
2.2.2 假設(shè)條件和控制方程
2.3 數(shù)值仿真計(jì)算
2.3.1 一次電流密度仿真
2.3.2 二次電流密度仿真
2.3.3 三次電流密度仿真
2.4 本章小結(jié)
3 平面工件表面粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)研究
3.1 電泳自組裝制備粒子掩膜
3.1.1 實(shí)驗(yàn)材料
3.1.2 實(shí)驗(yàn)過程
3.1.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
3.2 粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)
3.2.1 實(shí)驗(yàn)材料和實(shí)驗(yàn)條件
3.2.2 實(shí)驗(yàn)流程
3.2.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
3.3 微坑陣列形貌及均勻性研究
3.3.1 電沉積時(shí)間的影響
3.3.2 電流密度的影響
3.3.3 微坑陣列均勻性改善措施
3.4 本章小結(jié)
4 曲面工件表面粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)研究
4.1 曲面表面粒子掩膜的制作
4.1.1 實(shí)驗(yàn)材料
4.1.2 實(shí)驗(yàn)流程
4.1.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.2 粒子掩膜電沉積實(shí)驗(yàn)
4.2.1 實(shí)驗(yàn)流程
4.2.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.3 本章小結(jié)
5 微坑陣列性能評(píng)價(jià)
5.1 潤濕性相關(guān)理論
5.2 平面沉積層潤濕性測(cè)量
5.2.1 微坑中心距L=10μm
5.2.2 微坑中心距L=5μm
5.2.3 微坑中心距L=1μm
5.3 曲面沉積層潤濕性測(cè)試
5.3.1 基底曲率對(duì)潤濕性的影響
5.3.2 微坑尺寸對(duì)潤濕性的影響
5.4 本章小結(jié)
6 結(jié)論與展望
6.1 結(jié)論
6.2 展望
參考文獻(xiàn)
作者簡(jiǎn)歷
學(xué)位論文數(shù)據(jù)集
本文編號(hào):3650730
本文鏈接:http://www.sikaile.net/kejilunwen/jiagonggongyi/3650730.html
最近更新
教材專著