【摘要】：采用光學(xué)顯微鏡(OM)、X射線四環(huán)衍射(XRD)、電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)分析研究了形變細(xì)化晶粒、潤(rùn)滑軋制對(duì)Ni-9.3 at%W(Ni9.3W)合金基帶立方織構(gòu)形成的影響。結(jié)果表明,采用形變細(xì)化晶粒的方法能有效提高Ni9.3W合金基帶的立方織構(gòu)含量,并且隨著初始形變量的增加,晶粒細(xì)化程度增大,立方織構(gòu)含量增高,采用優(yōu)化的形變細(xì)化晶粒工藝使得Ni9.3W合金基帶立方織構(gòu)含量提高了9.8%。另外,增加形變細(xì)化晶粒后的軋制總變形量,立方織構(gòu)含量進(jìn)一步提升了24.7%。相比非潤(rùn)滑軋制而言,采用潤(rùn)滑軋制,軋制織構(gòu)中獲得了較多的S取向與Copper取向,經(jīng)再結(jié)晶退火后,潤(rùn)滑軋制基帶的立方織構(gòu)含量比非潤(rùn)滑軋制基帶的立方織構(gòu)含量高9.6%,達(dá)到了86.7%(15°),而且孿晶界數(shù)量、小角度晶界含量均要優(yōu)于非潤(rùn)滑軋制,說明潤(rùn)滑軋制對(duì)立方織構(gòu)形成有著積極的影響。
【圖文】：

，

本文編號(hào)：2538586