基于X射線熒光光譜法的土壤樣品主、次及痕量元素測定
發(fā)布時間:2018-01-03 19:19
本文關(guān)鍵詞:基于X射線熒光光譜法的土壤樣品主、次及痕量元素測定 出處:《吉林大學(xué)》2016年碩士論文 論文類型:學(xué)位論文
更多相關(guān)文章: 碳 氮 氯 硫 土壤樣品 X射線熒光光譜法
【摘要】:多目標(biāo)地球化學(xué)調(diào)查是一項跨學(xué)科、多領(lǐng)域綜合研究的創(chuàng)新工程,對以1:25萬比例尺采集的土壤樣品中52個元素及2項指標(biāo)的高精度分析,是其開展工作的最基礎(chǔ)內(nèi)容之一。其中C、N、Cl、S、Br、Ga、Sc、Ce、I、Se、Ti、有機碳、pH等15個項目的分析是以往地質(zhì)調(diào)查工作中沒有同時系統(tǒng)研究過的。這些新增項目,如用經(jīng)典的分析方法,一些是流程長、成本高、勞動強度大,不適合大量樣品的分析測試,一些是分析質(zhì)量達不到相關(guān)規(guī)范要求。本研究以固體粉末樣品壓制樣片,用RIGAKU ZSX PrimusⅡ型X-射線熒光光譜儀對土壤樣品中的C、N、Na_2O、MgO、Al_2O_3、SiO_2、P、S、Cl、K_2O、CaO、Ti、V、Cr、Mn、TFe_2O_3、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Ba和Br等30個組分進行連續(xù)測定和分析。著重探討了C、N、Cl、S等元素的分析條件、痕量元素的背景選擇及譜線重疊校正問題。校正曲線采用經(jīng)驗系數(shù)法、康普頓散射線或背景散射線作內(nèi)標(biāo)進行基體校正。該方法具有簡便,效率高,成本低等特點。特別適合樣品量大,分析項目又多的測試分析工作。尤其是使用新型X-射線熒光光譜儀的先進功能,解決了C、N、Cl、S、Br、Ga等30項元素的同時快速分析問題。方法的檢出限、精密度和準(zhǔn)確度滿足多目標(biāo)地球化學(xué)調(diào)查樣品的分析要求,并已經(jīng)通過國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行驗證。
[Abstract]:澶氱洰鏍囧湴鐞冨寲瀛﹁皟鏌ユ槸涓,
本文編號:1375236
本文鏈接:http://www.sikaile.net/kejilunwen/huaxue/1375236.html
最近更新
教材專著