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基于垂直剖面函數(shù)的天頂對流層延遲插值算法

發(fā)布時間:2023-12-10 18:53
  通過分析由ERA-Interim氣象再分析資料積分方法得到的天頂對流層總延遲隨高程變化的規(guī)律,提出一種基于垂直剖面函數(shù)的天頂對流層延遲(ZTD)插值算法。該算法以ZTD的垂直分布規(guī)律為基礎(chǔ),通過垂直剖面函數(shù)實現(xiàn)ZTD在高程方向上的精準投影延拓,可以避免因高差較大造成的空間內(nèi)插結(jié)構(gòu)畸形。采用IGS站提供的高精度對流層產(chǎn)品進行實驗驗證表明,該算法相對于傳統(tǒng)算法能夠有效提高ZTD改正值的精度,尤其在高差超過1 km的情況下,相對于反距離加權(quán)法精度提升了96%,相對于空間回歸法精度提升了79%。

【文章頁數(shù)】:5 頁

【文章目錄】:
1 基于垂直剖面函數(shù)的ZTD插值算法
    1.1 空間回歸模型
    1.2 ZTD垂直剖面函數(shù)的最佳擬合
    1.3 對流層延遲插值算法
2 算例分析
    2.1 數(shù)據(jù)來源與方案設(shè)計
    2.2 實驗結(jié)果分析
3 結(jié) 語



本文編號:3872949

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