本文關(guān)鍵詞：針對(duì)邏輯門功能異常的VLSI故障仿真方法研究

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【摘要】：為準(zhǔn)確評(píng)價(jià)測(cè)試集對(duì)超大規(guī)模集成電路(VLSI)內(nèi)部故障的覆蓋效果,提出一種VLSI故障建模與仿真方法。首先,在電路級(jí)綜合運(yùn)用仿真和實(shí)驗(yàn)手段向邏輯門內(nèi)部注入多個(gè)故障,統(tǒng)計(jì)并分析這些故障對(duì)其功能的影響以構(gòu)建由變異真值表(MTT)組成的故障字典;其次,考慮MTT及其發(fā)生的相對(duì)概率權(quán)重,提出一種有效的測(cè)試覆蓋率評(píng)價(jià)模型,并將其應(yīng)用于門級(jí)故障仿真算法中;最后,針對(duì)若干組合邏輯基準(zhǔn)電路進(jìn)行了實(shí)例驗(yàn)證,仿真實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所提方法相較于經(jīng)典的固定值故障模型能夠更真實(shí)地反映測(cè)試集的故障覆蓋能力。
【作者單位】： 海軍航空工程學(xué)院研究生二隊(duì);海軍航空工程學(xué)院科研部;海軍航空工程學(xué)院飛行器工程系;中國(guó)人民解放軍92514部隊(duì);
【關(guān)鍵詞】： 超大規(guī)模集成電路(VLSI)測(cè)試 故障建模 故障仿真 故障覆蓋率 變異真值表(MTT)
【分類號(hào)】：TN47
【正文快照】： 1引言提高測(cè)試集對(duì)真實(shí)故障的覆蓋率一直是超大規(guī)模集成電路(very large scale integration,VLSI)測(cè)試領(lǐng)域的一個(gè)重要課題。故障模型的質(zhì)量直接決定著測(cè)試集的質(zhì)量。固定值故障(stuck-at fault,SAF)模型一直在數(shù)字電路測(cè)試領(lǐng)域扮演主要角色[1-3],但有研究表明仍有許多故障不能

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