基于數(shù)字信號(hào)處理的高精度ADC測(cè)試方法研究
發(fā)布時(shí)間:2025-05-11 03:12
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、自動(dòng)測(cè)試、工業(yè)控制、數(shù)字通信以及測(cè)量等各個(gè)領(lǐng)域廣泛采用模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),各行業(yè)對(duì)ADC的精度要求也是不斷提高。由于數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(DSP)具有快速的數(shù)字化數(shù)據(jù)處理能力,并逐漸應(yīng)用于ADC測(cè)試領(lǐng)域,通過快速傅里葉變換(FFT)處理后,計(jì)算ADC采樣后信號(hào)的頻譜信息,從而實(shí)現(xiàn)ADC的頻域參數(shù)測(cè)試。本課題主要針對(duì)高精度ADC利用FFT法進(jìn)行頻域參數(shù)測(cè)試,并解決高精度ADC測(cè)試中對(duì)輸入信號(hào)要求高、存在頻譜泄露和柵欄效應(yīng)的影響,通過算法優(yōu)化提高測(cè)試精度。本文主要研究內(nèi)容如下:(1)為了解決高精度ADC頻域參數(shù)測(cè)試在非相干采樣條件下出現(xiàn)的頻譜泄露問題,通過加組合余弦窗函的方法,解釋了窗函數(shù)的性能對(duì)ADC頻域參數(shù)測(cè)試的影響,通過研究組合余弦窗函數(shù)的性能及設(shè)計(jì)方法,分析如何設(shè)計(jì)選擇窗函數(shù)降低頻譜泄露的影響。(2)由于非相干采樣下FFT測(cè)試法出現(xiàn)的柵欄效應(yīng),通過頻域插值算法降低柵欄效應(yīng)的影響,對(duì)雙譜線和三譜線插值算法進(jìn)行深入闡述,并利用加窗插值算對(duì)ADC頻域參數(shù)測(cè)試的幅值進(jìn)行修正。(3)由于高精度ADC測(cè)試對(duì)輸入信號(hào)純度要求較高,為了降低對(duì)高精度信號(hào)源的需求,利用...
【文章頁數(shù)】:78 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
abstract
第一章 緒論
1.1 研究課題背景與意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 本文的主要工作
1.4 本文的結(jié)構(gòu)安排
第二章 高精度ADC參數(shù)測(cè)試原理
2.1 高精度ADC頻域測(cè)試參數(shù)
2.2 ADC頻域參數(shù)測(cè)試技術(shù)
2.2.1 ADC測(cè)試輸入信號(hào)生成
2.2.2 高精度ADC頻域測(cè)試方法
2.3 FFT測(cè)試法常見問題
2.3.1 頻譜泄露
2.3.2 柵欄效應(yīng)
2.4 本章小結(jié)
第三章 加窗插值算法的研究及改進(jìn)
3.1 窗函數(shù)描述及選擇
3.2 窗函數(shù)設(shè)計(jì)
3.3 頻譜插值算法
3.3.1 雙譜線線性插值算法
3.3.2 三譜線線性插值算法
3.4 加窗插值算法的幅值修正
3.5 本章小結(jié)
第四章 測(cè)試信號(hào)生成算法及測(cè)試平臺(tái)搭建
4.1 測(cè)試信號(hào)生成原理
4.2 基波幅度匹配和相位匹配
4.2.1 基波幅度匹配
4.2.2 基波相位匹配
4.3 非相干性識(shí)別和估計(jì)
4.3.1 基波的非相干性識(shí)別
4.3.2 DAC的非線性估計(jì)
4.4 測(cè)試信號(hào)的捕獲
4.5 ADC評(píng)估實(shí)驗(yàn)板設(shè)計(jì)
4.5.1 總體硬件方案
4.5.2 待測(cè)ADC電路設(shè)計(jì)
4.6 本章小結(jié)
第五章 高精度ADC加窗插值頻域測(cè)試
5.1 測(cè)試基本流程
5.2 測(cè)試結(jié)果與分析
5.3 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
6.1 總結(jié)
6.2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄
攻讀碩士學(xué)位期間取得的成果
本文編號(hào):4044759
【文章頁數(shù)】:78 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
abstract
第一章 緒論
1.1 研究課題背景與意義
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 本文的主要工作
1.4 本文的結(jié)構(gòu)安排
第二章 高精度ADC參數(shù)測(cè)試原理
2.1 高精度ADC頻域測(cè)試參數(shù)
2.2 ADC頻域參數(shù)測(cè)試技術(shù)
2.2.1 ADC測(cè)試輸入信號(hào)生成
2.2.2 高精度ADC頻域測(cè)試方法
2.3 FFT測(cè)試法常見問題
2.3.1 頻譜泄露
2.3.2 柵欄效應(yīng)
2.4 本章小結(jié)
第三章 加窗插值算法的研究及改進(jìn)
3.1 窗函數(shù)描述及選擇
3.2 窗函數(shù)設(shè)計(jì)
3.3 頻譜插值算法
3.3.1 雙譜線線性插值算法
3.3.2 三譜線線性插值算法
3.4 加窗插值算法的幅值修正
3.5 本章小結(jié)
第四章 測(cè)試信號(hào)生成算法及測(cè)試平臺(tái)搭建
4.1 測(cè)試信號(hào)生成原理
4.2 基波幅度匹配和相位匹配
4.2.1 基波幅度匹配
4.2.2 基波相位匹配
4.3 非相干性識(shí)別和估計(jì)
4.3.1 基波的非相干性識(shí)別
4.3.2 DAC的非線性估計(jì)
4.4 測(cè)試信號(hào)的捕獲
4.5 ADC評(píng)估實(shí)驗(yàn)板設(shè)計(jì)
4.5.1 總體硬件方案
4.5.2 待測(cè)ADC電路設(shè)計(jì)
4.6 本章小結(jié)
第五章 高精度ADC加窗插值頻域測(cè)試
5.1 測(cè)試基本流程
5.2 測(cè)試結(jié)果與分析
5.3 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
6.1 總結(jié)
6.2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄
攻讀碩士學(xué)位期間取得的成果
本文編號(hào):4044759
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