面向片上系統(tǒng)掃描設(shè)計的低功耗LFSR重播種測試壓縮技術(shù)
發(fā)布時間：2021-10-27 09:30
半導(dǎo)體工藝技術(shù)迅速發(fā)展加速了集成電路進(jìn)入納米/超深亞微米時代,系統(tǒng)芯片SoC（System-on-Chip）大量涌現(xiàn),導(dǎo)致電路規(guī)模、集成度和復(fù)雜度迅速增加。集成電路設(shè)計、測試和驗證面臨空前的技術(shù)挑戰(zhàn)和棘手問題,測試數(shù)據(jù)量過大、測試功耗過高、測試時間過長等成為測試領(lǐng)域當(dāng)前關(guān)注的研究熱點。過大的測試存儲需求導(dǎo)致測試成本居高不下,過高的測試功耗可能引起待測電路產(chǎn)生過大的電流或電壓,導(dǎo)致系統(tǒng)瞬間損壞、可靠性降低和無法避免的產(chǎn)量損失,嚴(yán)重影響集成電路的生產(chǎn)和制造,進(jìn)而延緩自主知識產(chǎn)權(quán)的芯片研發(fā)進(jìn)程。本文研究工作圍繞SoC測試生成、數(shù)據(jù)壓縮和低功耗測試技術(shù)展開,具體工作內(nèi)容如下:（1）本文分析了片上系統(tǒng)測試壓縮和低功耗測試技術(shù)的研究背景及其國內(nèi)外研究現(xiàn)狀,概述了片上系統(tǒng)測試原理、測試向量生成技術(shù)和測試數(shù)據(jù)壓縮方法;介紹了片上系統(tǒng)內(nèi)建式測試和外建式低功耗測試技術(shù)。（2）LFSR（Linear feedback shift register）重播種技術(shù)能夠取得很好的測試壓縮效果,但測試集中無關(guān)位的隨機(jī)填充導(dǎo)致LFSR重播種掃描測試過程產(chǎn)生過多的開關(guān)切換活動,從而引發(fā)較高的測試功耗。因此,本章提出基于測...
【文章來源】：北京工業(yè)大學(xué)北京市 211工程院校
【文章頁數(shù)】：81 頁
【學(xué)位級別】：碩士
【部分圖文】：
國際半導(dǎo)體協(xié)會集成電路發(fā)展概況Figure1-1Developmenttrendofintegratedcircuitprocesstechnology
北京工業(yè)大學(xué)工學(xué)碩士學(xué)位論文 2 m- 1}行成第二組2A ，集合{(k - 1) m , (k -1 2{ , , }kA , A A 表示，其中 m 是 2 的冪次每個碼字由兩部分組成：前綴和后綴。則由后綴來表示。后綴是組中游程長度個整數(shù) N，m = 2N），則每個組包含 2N可以得到分塊內(nèi)所有元素的后綴。表 組包含四個游程長度。表 2-6 每組有四個游程長度的 Golomb 代碼-6 Golomb Code with Four Run-Lengths for Ea
掃描鏈 2掃描鏈 n壓LF相..0Sign-SR1010UF-SRHF-SRSign-SR10Block_clkBlock_clkDecoder architecture圖 4-7 LFSR 重播種電路的解碼結(jié)構(gòu)Figure 4-7 Hardware architecture of LFSR reseeding circuit由于所提出方法的硬件架構(gòu)需要額外的電路，如 LFSR，移相器和解碼器結(jié)構(gòu)，它們將改變 BIST 架構(gòu)的時序分析。因此在圖 4-8 中展示了解碼電路在解碼過程中的中時序信息。在掃描測試期間，預(yù)先存儲在 ROM 中的種子向量在LFSR_clk 信號的控制下加載到 LFSR 電路中，這些種子在 FSM 的控制信號下被解壓縮成相應(yīng)的測試模式。在 Scan_clk 的控制下，這些測試模式被掃描到多個掃描鏈中，用于并行測試的掃描電路。最后捕獲測試響應(yīng)，通過壓實器壓縮，以與ATE 中的黃金種子向量進(jìn)行比較以獲得測試結(jié)果。
【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]一種低功耗雙重測試數(shù)據(jù)壓縮方案[J]. 陳田,易鑫,王偉,劉軍,梁華國,任福繼. 電子學(xué)報. 2017(06)
[2]DFT與ATPG的低功耗設(shè)計原理與分析[J]. 丁偉. 電子設(shè)計工程. 2016(12)
[3]使用雙重種子壓縮的混合模式自測試[J]. 梁華國,蔣翠云. 計算機(jī)研究與發(fā)展. 2004(01)
博士論文
[1]SoC可測性設(shè)計中低成本與低功耗測試技術(shù)研究[D]. 吳鐵彬.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2015
碩士論文
[1]超大規(guī)模集成電路測試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術(shù)研究[D]. 鞠子劍.北京工業(yè)大學(xué) 2017
[2]基于片上系統(tǒng)低功耗測試的編碼壓縮技術(shù)研究[D]. 郭琨.北京工業(yè)大學(xué) 2016
[3]部分向量切分的LFSR重新播種測試方法[D]. 詹凱華.合肥工業(yè)大學(xué) 2008
本文編號：3461329
【文章來源】：北京工業(yè)大學(xué)北京市 211工程院校
【文章頁數(shù)】：81 頁
【學(xué)位級別】：碩士
【部分圖文】：
國際半導(dǎo)體協(xié)會集成電路發(fā)展概況Figure1-1Developmenttrendofintegratedcircuitprocesstechnology
北京工業(yè)大學(xué)工學(xué)碩士學(xué)位論文 2 m- 1}行成第二組2A ，集合{(k - 1) m , (k -1 2{ , , }kA , A A 表示，其中 m 是 2 的冪次每個碼字由兩部分組成：前綴和后綴。則由后綴來表示。后綴是組中游程長度個整數(shù) N，m = 2N），則每個組包含 2N可以得到分塊內(nèi)所有元素的后綴。表 組包含四個游程長度。表 2-6 每組有四個游程長度的 Golomb 代碼-6 Golomb Code with Four Run-Lengths for Ea
掃描鏈 2掃描鏈 n壓LF相..0Sign-SR1010UF-SRHF-SRSign-SR10Block_clkBlock_clkDecoder architecture圖 4-7 LFSR 重播種電路的解碼結(jié)構(gòu)Figure 4-7 Hardware architecture of LFSR reseeding circuit由于所提出方法的硬件架構(gòu)需要額外的電路，如 LFSR，移相器和解碼器結(jié)構(gòu)，它們將改變 BIST 架構(gòu)的時序分析。因此在圖 4-8 中展示了解碼電路在解碼過程中的中時序信息。在掃描測試期間，預(yù)先存儲在 ROM 中的種子向量在LFSR_clk 信號的控制下加載到 LFSR 電路中，這些種子在 FSM 的控制信號下被解壓縮成相應(yīng)的測試模式。在 Scan_clk 的控制下，這些測試模式被掃描到多個掃描鏈中，用于并行測試的掃描電路。最后捕獲測試響應(yīng)，通過壓實器壓縮，以與ATE 中的黃金種子向量進(jìn)行比較以獲得測試結(jié)果。
【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]一種低功耗雙重測試數(shù)據(jù)壓縮方案[J]. 陳田,易鑫,王偉,劉軍,梁華國,任福繼. 電子學(xué)報. 2017(06)
[2]DFT與ATPG的低功耗設(shè)計原理與分析[J]. 丁偉. 電子設(shè)計工程. 2016(12)
[3]使用雙重種子壓縮的混合模式自測試[J]. 梁華國,蔣翠云. 計算機(jī)研究與發(fā)展. 2004(01)
博士論文
[1]SoC可測性設(shè)計中低成本與低功耗測試技術(shù)研究[D]. 吳鐵彬.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2015
碩士論文
[1]超大規(guī)模集成電路測試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術(shù)研究[D]. 鞠子劍.北京工業(yè)大學(xué) 2017
[2]基于片上系統(tǒng)低功耗測試的編碼壓縮技術(shù)研究[D]. 郭琨.北京工業(yè)大學(xué) 2016
[3]部分向量切分的LFSR重新播種測試方法[D]. 詹凱華.合肥工業(yè)大學(xué) 2008
本文編號：3461329
本文鏈接：http://www.sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/3461329.html
最近更新
教材專著
