介紹了一種利用被測數(shù)字電路中可編程微處理器芯片、大規(guī)�？删幊蘁PGA芯片可編程芯片來參與測試的方法。通過對被測數(shù)字電路中可編程芯片進行測試軟件重構(gòu)來完成測試性電路構(gòu)建。在測試計算機控制下,向被測電路加載測試向量。測試軟件控制被測電路中的微處理器、FPGA提供各種節(jié)點測試響應(yīng)信號,最終在測試計算機中完成信號的比對及故障識別與輔助定位。經(jīng)過驗證實驗,證明該方法具有實用性強、測試成本低的優(yōu)點。 

【文章來源】：電子器件. 2020,43(04)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁

【文章目錄】：
1 基本測試方法
    1.1 故障檢測識別[5]
    1.2 故障隔離與定位
2 測試方法及系統(tǒng)構(gòu)建
    2.1 基礎(chǔ)測試
    2.2 聯(lián)調(diào)測試
    2.3 對電路的測試重構(gòu)
    2.4 測試實例
        2.4.1 基本模塊測試
        2.4.2 聯(lián)調(diào)測試
3 結(jié)論


【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
[1]PCB電路故障預(yù)測與診斷方法研究[D]. 章玉珠.合肥工業(yè)大學(xué) 2016
[2]帶微處理器數(shù)字電路的故障測試研究[D]. 劉君.湖北工業(yè)大學(xué) 2015



本文編號：3148203