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InAs/GaSb薄膜及器件特性研究

發(fā)布時(shí)間:2021-01-20 20:59
  InAs/GaSb II類超晶格材料是近年興起的新型本征吸收窄禁帶半導(dǎo)體材料,優(yōu)異的性能使其在軍事等領(lǐng)域有非常廣泛的應(yīng)用。受材料生長技術(shù)和水平的限制,國內(nèi)有關(guān)InAs/GaSb II類超晶格紅外探測器的報(bào)道較少。另外,InAs/GaSb II類超晶格紅外探測器的臺面腐蝕和表面鈍化水平還有待提高。本論文使用分子束外延技術(shù),超高真空環(huán)境下在GaSb襯底上外延生長了InAs/GaSb II類超晶格材料。設(shè)計(jì)出多次套刻腐蝕技術(shù),制備了紅外探測器芯片。主要研究內(nèi)容和進(jìn)展如下:生長出8ML InAs/8ML GaSb結(jié)構(gòu)的中波超晶格和4ML InAs/8ML GaSb結(jié)構(gòu)的短波超晶格材料,揭示了生長參數(shù)對InAs/GaSb II類超晶格結(jié)構(gòu)和光電性能的影響規(guī)律,優(yōu)化了其生長參數(shù)。闡明了生長溫度(445℃-485℃)對不同界面的中波超晶格晶體結(jié)構(gòu)和表面形貌的影響機(jī)理。使用了生長中斷法和表面遷移率增強(qiáng)法(MEE)兩種不同的快門控制方法,使用MEE法可以對界面結(jié)構(gòu)和界面厚度進(jìn)行精確控制,同時(shí)有效抑制As/Sb間的置換過程。得出了快門中斷時(shí)間、InSb界面生長時(shí)間、V族元素束流等參數(shù)對超晶格材料應(yīng)變性質(zhì)的... 

【文章來源】:西北工業(yè)大學(xué)陜西省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】:116 頁

【學(xué)位級別】:博士

【部分圖文】:

InAs/GaSb薄膜及器件特性研究


一個(gè)單量子阱的結(jié)構(gòu)和能帶圖

家族,帶隙,半導(dǎo)體超晶格,晶格


圖 1-2 6.1 家族和 I 類 II 類帶隙Fig. 1-2 6.1 material system and Type I and Type II bandga人造晶格,半導(dǎo)體超晶格分為組分超晶格和摻雜大量重復(fù)相間的組分不同的薄層,每層的厚度都

譜線,應(yīng)用范圍


如圖 1-3 所示。紅外通信距離遠(yuǎn)大于無線電通信的距離,因?yàn)樵诳諝庀”〉母呖栈虼髿鈱右酝,相互干擾很小。紅外光纖現(xiàn)代光纖通信的一個(gè)重要方向,它無中繼傳輸距離遠(yuǎn),通信損耗低。此外,紅外技術(shù)可應(yīng)用紅外探測器對有害物質(zhì)進(jìn)行監(jiān)測,因?yàn)槊糠N有害物質(zhì)分子結(jié)構(gòu)都有相對應(yīng)的特征吸收譜線。在對痕量氣體進(jìn)行檢測時(shí),在中紅外波段靈敏度比在近紅外波段檢測要高兩個(gè)數(shù)量級[24]。此外,在空間對地探測如大氣成分分析、、農(nóng)作物估產(chǎn)了解資源分布、土壤水分監(jiān)測等方面有著重要地應(yīng)用。紅外熱成像技術(shù)尤其是焦平面陣列技術(shù)的采用,將紅外探測技術(shù)發(fā)展成為與眼睛相媲美的凝視系統(tǒng)。所有這些都說明,紅外科學(xué)與技術(shù)的發(fā)展愈來愈快,應(yīng)用越來越廣,已經(jīng)涉及到全人類多方面的重要科技領(lǐng)域。

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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[2]InAs/GaSb超晶格中波紅外二極管的陽極硫化[J]. 郭杰,郝瑞亭,段劍金,許林,李銀柱.  光子學(xué)報(bào). 2014(01)
[3]長波InAs/GaSbⅡ類超晶格紅外探測器[J]. 周易,陳建新,徐慶慶,徐志成,靳川,許佳佳,金巨鵬,何力.  紅外與毫米波學(xué)報(bào). 2013(03)
[4]感應(yīng)耦合等離子體刻蝕InSb時(shí)偏壓射頻源功率的選取[J]. 王理文,司俊杰,張國棟.  航空兵器. 2012(04)
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[8]GaAs基短周期InAs/GaSb超晶格紅外探測器研究[J]. 郭杰,彭震宇,魯正雄,孫維國,郝瑞亭,周志強(qiáng),許應(yīng)強(qiáng),牛智川.  紅外與毫米波學(xué)報(bào). 2009(03)
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[10]Ar+刻蝕對InGaAs,n-InP和p-InP表面損傷及消除[J]. 呂衍秋,越方禹,洪學(xué)鹍,陳江峰,韓冰,吳小利,龔海梅.  半導(dǎo)體學(xué)報(bào). 2007(01)



本文編號:2989775

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