在集成電路測(cè)試系統(tǒng)中軟件分為顯控軟件與驅(qū)動(dòng)軟件。其中顯控軟件主要實(shí)現(xiàn)兩個(gè)功能:一是提供人機(jī)交互界面,用于完成測(cè)試程序開(kāi)發(fā),即設(shè)置測(cè)試參數(shù)、測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試流程;二是控制驅(qū)動(dòng)模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的測(cè)試,并獲取測(cè)試結(jié)果。而如今國(guó)內(nèi)對(duì)于顯控軟件的研究較少,同時(shí)存在一定問(wèn)題。首先,現(xiàn)有國(guó)內(nèi)軟件提供的可設(shè)置參數(shù)類(lèi)型及數(shù)量都較少,且在多個(gè)測(cè)試項(xiàng)中存在重復(fù)設(shè)置的參數(shù);其次,整體軟件模塊化程度不高,靈活性較低;另外圖形界面不具備輔助測(cè)試開(kāi)發(fā)功能,導(dǎo)致參數(shù)設(shè)置操作繁瑣。為解決上述問(wèn)題,本文選用Python作為編程語(yǔ)言,Qt作為界面開(kāi)發(fā)工具,針對(duì)大規(guī)模數(shù)字集成電路實(shí)現(xiàn)界面友好、功能完備的人機(jī)交互界面。最終本界面可設(shè)置引腳數(shù)最多達(dá)1024個(gè),邊沿集為256個(gè);并依據(jù)集成電路測(cè)試儀的現(xiàn)有硬件指標(biāo)完成控制模塊,實(shí)現(xiàn)對(duì)中小型數(shù)字集成電路的測(cè)試。本文的主要研究?jī)?nèi)容如下:1.針對(duì)人機(jī)交互界面可設(shè)置參數(shù)類(lèi)型較少和參數(shù)重復(fù)的問(wèn)題,本文從功能與人機(jī)交互兩方面進(jìn)行徹底的需求分析,對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行總結(jié)以及分類(lèi)。通過(guò)對(duì)測(cè)試參數(shù)的整理,提取出通用測(cè)試參數(shù)與特殊測(cè)試參數(shù),并采用抽象數(shù)據(jù)類(lèi)型的方式完成對(duì)各類(lèi)參數(shù)的描述;2.針對(duì)軟件模塊化程度不高... 

【文章來(lái)源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：109 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

IG-XL測(cè)試軟件界面圖

圖 1-2 數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件界面綜上所述，目前我國(guó)市場(chǎng)上已經(jīng)存在一定的中小型規(guī)模的數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試軟件。但總的來(lái)講，現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)基本針對(duì)中小型數(shù)字集成電路，可設(shè)置的引腳數(shù)較少，測(cè)試向量存儲(chǔ)深度不高，最高測(cè)試頻率也較低。而對(duì)于測(cè)試軟件來(lái)講，總體通用性不高，可設(shè)置的參數(shù)較少，并且輔助測(cè)試開(kāi)發(fā)功能并不完善。另外在不同測(cè)試項(xiàng)中設(shè)置過(guò)程存在重復(fù)操作，增大內(nèi)存開(kāi)銷(xiāo)，并且界面不夠友好。從軟件設(shè)計(jì)的角度來(lái)說(shuō)，測(cè)試軟件普遍存在測(cè)試向量與測(cè)試參數(shù)交織的問(wèn)題，整體軟件耦合性過(guò)高，可測(cè)性與可維護(hù)性較低�？傊�，我國(guó)在集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件的研究上仍然落后于國(guó)際先進(jìn)水平，總體研究情況仍亟待提升[28]。1.3 論文主要內(nèi)容及章節(jié)安排本文主要研究集成電路測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。顯控軟件用于設(shè)置器件測(cè)試的必要信息，并完成自動(dòng)對(duì)器件的各項(xiàng)測(cè)試。首先完成對(duì)測(cè)試所需各類(lèi)參數(shù)的設(shè)定，以及對(duì)測(cè)試流程的設(shè)置，其次通過(guò)調(diào)用驅(qū)動(dòng)單元來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)硬件模塊

選題背景與依據(jù)之后，首先介紹集成電路測(cè)試系統(tǒng)的的基本原理。另外，完成對(duì)測(cè)試系統(tǒng)整體軟件以及顯測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件總體方案設(shè)計(jì)。測(cè)試系統(tǒng)與測(cè)試原理介紹測(cè)試系統(tǒng)分為測(cè)試儀和測(cè)試軟件，二者配套使用。本針對(duì)中小型數(shù)字集成電路，而顯控軟件則分為兩個(gè)部測(cè)試開(kāi)發(fā)的人機(jī)交互界面，以及依據(jù)測(cè)試儀的現(xiàn)有硬集成電路的測(cè)試。在正式闡述測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件方案集成電路測(cè)試儀的組成，并且為更好的進(jìn)行軟件需求成電路測(cè)試的原理。路測(cè)試儀介紹的集成電路測(cè)試儀，目前主要提供對(duì)數(shù)字集成電路的塊板卡構(gòu)成。其結(jié)構(gòu)圖如下圖 2-1 所示：

【參考文獻(xiàn)】：
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碩士論文
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