集成電路測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
發(fā)布時(shí)間:2020-12-19 12:10
在集成電路測(cè)試系統(tǒng)中軟件分為顯控軟件與驅(qū)動(dòng)軟件。其中顯控軟件主要實(shí)現(xiàn)兩個(gè)功能:一是提供人機(jī)交互界面,用于完成測(cè)試程序開(kāi)發(fā),即設(shè)置測(cè)試參數(shù)、測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試流程;二是控制驅(qū)動(dòng)模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的測(cè)試,并獲取測(cè)試結(jié)果。而如今國(guó)內(nèi)對(duì)于顯控軟件的研究較少,同時(shí)存在一定問(wèn)題。首先,現(xiàn)有國(guó)內(nèi)軟件提供的可設(shè)置參數(shù)類(lèi)型及數(shù)量都較少,且在多個(gè)測(cè)試項(xiàng)中存在重復(fù)設(shè)置的參數(shù);其次,整體軟件模塊化程度不高,靈活性較低;另外圖形界面不具備輔助測(cè)試開(kāi)發(fā)功能,導(dǎo)致參數(shù)設(shè)置操作繁瑣。為解決上述問(wèn)題,本文選用Python作為編程語(yǔ)言,Qt作為界面開(kāi)發(fā)工具,針對(duì)大規(guī)模數(shù)字集成電路實(shí)現(xiàn)界面友好、功能完備的人機(jī)交互界面。最終本界面可設(shè)置引腳數(shù)最多達(dá)1024個(gè),邊沿集為256個(gè);并依據(jù)集成電路測(cè)試儀的現(xiàn)有硬件指標(biāo)完成控制模塊,實(shí)現(xiàn)對(duì)中小型數(shù)字集成電路的測(cè)試。本文的主要研究?jī)?nèi)容如下:1.針對(duì)人機(jī)交互界面可設(shè)置參數(shù)類(lèi)型較少和參數(shù)重復(fù)的問(wèn)題,本文從功能與人機(jī)交互兩方面進(jìn)行徹底的需求分析,對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行總結(jié)以及分類(lèi)。通過(guò)對(duì)測(cè)試參數(shù)的整理,提取出通用測(cè)試參數(shù)與特殊測(cè)試參數(shù),并采用抽象數(shù)據(jù)類(lèi)型的方式完成對(duì)各類(lèi)參數(shù)的描述;2.針對(duì)軟件模塊化程度不高...
【文章來(lái)源】:電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:109 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
IG-XL測(cè)試軟件界面圖
圖 1-2 數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件界面綜上所述,目前我國(guó)市場(chǎng)上已經(jīng)存在一定的中小型規(guī)模的數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試軟件。但總的來(lái)講,現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)基本針對(duì)中小型數(shù)字集成電路,可設(shè)置的引腳數(shù)較少,測(cè)試向量存儲(chǔ)深度不高,最高測(cè)試頻率也較低。而對(duì)于測(cè)試軟件來(lái)講,總體通用性不高,可設(shè)置的參數(shù)較少,并且輔助測(cè)試開(kāi)發(fā)功能并不完善。另外在不同測(cè)試項(xiàng)中設(shè)置過(guò)程存在重復(fù)操作,增大內(nèi)存開(kāi)銷(xiāo),并且界面不夠友好。從軟件設(shè)計(jì)的角度來(lái)說(shuō),測(cè)試軟件普遍存在測(cè)試向量與測(cè)試參數(shù)交織的問(wèn)題,整體軟件耦合性過(guò)高,可測(cè)性與可維護(hù)性較低?傊,我國(guó)在集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件的研究上仍然落后于國(guó)際先進(jìn)水平,總體研究情況仍亟待提升[28]。1.3 論文主要內(nèi)容及章節(jié)安排本文主要研究集成電路測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。顯控軟件用于設(shè)置器件測(cè)試的必要信息,并完成自動(dòng)對(duì)器件的各項(xiàng)測(cè)試。首先完成對(duì)測(cè)試所需各類(lèi)參數(shù)的設(shè)定,以及對(duì)測(cè)試流程的設(shè)置,其次通過(guò)調(diào)用驅(qū)動(dòng)單元來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)硬件模塊
選題背景與依據(jù)之后,首先介紹集成電路測(cè)試系統(tǒng)的的基本原理。另外,完成對(duì)測(cè)試系統(tǒng)整體軟件以及顯測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件總體方案設(shè)計(jì)。測(cè)試系統(tǒng)與測(cè)試原理介紹測(cè)試系統(tǒng)分為測(cè)試儀和測(cè)試軟件,二者配套使用。本針對(duì)中小型數(shù)字集成電路,而顯控軟件則分為兩個(gè)部測(cè)試開(kāi)發(fā)的人機(jī)交互界面,以及依據(jù)測(cè)試儀的現(xiàn)有硬集成電路的測(cè)試。在正式闡述測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件方案集成電路測(cè)試儀的組成,并且為更好的進(jìn)行軟件需求成電路測(cè)試的原理。路測(cè)試儀介紹的集成電路測(cè)試儀,目前主要提供對(duì)數(shù)字集成電路的塊板卡構(gòu)成。其結(jié)構(gòu)圖如下圖 2-1 所示:
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于Python語(yǔ)言的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用軟件平臺(tái)實(shí)現(xiàn)[J]. 周陽(yáng)明. 電子設(shè)計(jì)工程. 2019(05)
[2]高性能ADC芯片測(cè)試技術(shù)研究[J]. 王華. 中國(guó)集成電路. 2018(06)
[3]一種基于海明排序進(jìn)行無(wú)關(guān)位填充的低功耗測(cè)試向量?jī)?yōu)化方法[J]. 談恩民,范玉祥. 計(jì)算機(jī)科學(xué). 2018(02)
[4]ATE系統(tǒng)在衛(wèi)星導(dǎo)航射頻芯片測(cè)試技術(shù)中的應(yīng)用[J]. 葉鑫,戴志春,伍俊,曹馬健,張勇虎. 數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用. 2018(01)
[5]集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用研究[J]. 宋鐵生. 電子測(cè)試. 2017(16)
[6]基于PXI的集成電路測(cè)試機(jī)的設(shè)計(jì)研究[J]. 黃瑞,趙春蓮. 集成電路應(yīng)用. 2017(08)
[7]大規(guī)模復(fù)雜系統(tǒng)的開(kāi)放式軟件架構(gòu)研究[J]. 尹偉,繆萬(wàn)勝,王念偉,洪沛. 航空電子技術(shù). 2017(02)
[8]基于Qt和Flash的嵌入式Linux軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)[J]. 王曉燕,劉軍霞,楊先文. 現(xiàn)代電子技術(shù). 2017(01)
[9]集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用研究[J]. 劉煒. 通訊世界. 2015(16)
[10]ATE軟件系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)[J]. 段紅義. 計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制. 2015(02)
碩士論文
[1]信息化體系結(jié)構(gòu)ATE軟件平臺(tái)開(kāi)發(fā)[D]. 崔翹楚.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2015
[2]基于冗余共享的嵌入式SRAM的內(nèi)建自測(cè)試修復(fù)及失效分析[D]. 龐理.西安電子科技大學(xué) 2015
[3]高精度多通道逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器測(cè)試與修調(diào)[D]. 李濤.電子科技大學(xué) 2014
[4]基于ATE的百萬(wàn)門(mén)級(jí)FPGA測(cè)試方法的研究[D]. 王世穎.電子科技大學(xué) 2012
[5]數(shù)字IC測(cè)試儀的研究與設(shè)計(jì)[D]. 仲偉楊.南京理工大學(xué) 2012
[6]數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)[D]. 溫曉佩.電子科技大學(xué) 2011
[7]數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試硬件技術(shù)研究[D]. 陳明亮.電子科技大學(xué) 2010
[8]ATE軟件測(cè)試方法研究及實(shí)現(xiàn)[D]. 伍利.電子科技大學(xué) 2004
本文編號(hào):2925882
【文章來(lái)源】:電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:109 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
IG-XL測(cè)試軟件界面圖
圖 1-2 數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件界面綜上所述,目前我國(guó)市場(chǎng)上已經(jīng)存在一定的中小型規(guī)模的數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試軟件。但總的來(lái)講,現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)基本針對(duì)中小型數(shù)字集成電路,可設(shè)置的引腳數(shù)較少,測(cè)試向量存儲(chǔ)深度不高,最高測(cè)試頻率也較低。而對(duì)于測(cè)試軟件來(lái)講,總體通用性不高,可設(shè)置的參數(shù)較少,并且輔助測(cè)試開(kāi)發(fā)功能并不完善。另外在不同測(cè)試項(xiàng)中設(shè)置過(guò)程存在重復(fù)操作,增大內(nèi)存開(kāi)銷(xiāo),并且界面不夠友好。從軟件設(shè)計(jì)的角度來(lái)說(shuō),測(cè)試軟件普遍存在測(cè)試向量與測(cè)試參數(shù)交織的問(wèn)題,整體軟件耦合性過(guò)高,可測(cè)性與可維護(hù)性較低?傊,我國(guó)在集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件的研究上仍然落后于國(guó)際先進(jìn)水平,總體研究情況仍亟待提升[28]。1.3 論文主要內(nèi)容及章節(jié)安排本文主要研究集成電路測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。顯控軟件用于設(shè)置器件測(cè)試的必要信息,并完成自動(dòng)對(duì)器件的各項(xiàng)測(cè)試。首先完成對(duì)測(cè)試所需各類(lèi)參數(shù)的設(shè)定,以及對(duì)測(cè)試流程的設(shè)置,其次通過(guò)調(diào)用驅(qū)動(dòng)單元來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)硬件模塊
選題背景與依據(jù)之后,首先介紹集成電路測(cè)試系統(tǒng)的的基本原理。另外,完成對(duì)測(cè)試系統(tǒng)整體軟件以及顯測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件總體方案設(shè)計(jì)。測(cè)試系統(tǒng)與測(cè)試原理介紹測(cè)試系統(tǒng)分為測(cè)試儀和測(cè)試軟件,二者配套使用。本針對(duì)中小型數(shù)字集成電路,而顯控軟件則分為兩個(gè)部測(cè)試開(kāi)發(fā)的人機(jī)交互界面,以及依據(jù)測(cè)試儀的現(xiàn)有硬集成電路的測(cè)試。在正式闡述測(cè)試系統(tǒng)顯控軟件方案集成電路測(cè)試儀的組成,并且為更好的進(jìn)行軟件需求成電路測(cè)試的原理。路測(cè)試儀介紹的集成電路測(cè)試儀,目前主要提供對(duì)數(shù)字集成電路的塊板卡構(gòu)成。其結(jié)構(gòu)圖如下圖 2-1 所示:
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于Python語(yǔ)言的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用軟件平臺(tái)實(shí)現(xiàn)[J]. 周陽(yáng)明. 電子設(shè)計(jì)工程. 2019(05)
[2]高性能ADC芯片測(cè)試技術(shù)研究[J]. 王華. 中國(guó)集成電路. 2018(06)
[3]一種基于海明排序進(jìn)行無(wú)關(guān)位填充的低功耗測(cè)試向量?jī)?yōu)化方法[J]. 談恩民,范玉祥. 計(jì)算機(jī)科學(xué). 2018(02)
[4]ATE系統(tǒng)在衛(wèi)星導(dǎo)航射頻芯片測(cè)試技術(shù)中的應(yīng)用[J]. 葉鑫,戴志春,伍俊,曹馬健,張勇虎. 數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用. 2018(01)
[5]集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用研究[J]. 宋鐵生. 電子測(cè)試. 2017(16)
[6]基于PXI的集成電路測(cè)試機(jī)的設(shè)計(jì)研究[J]. 黃瑞,趙春蓮. 集成電路應(yīng)用. 2017(08)
[7]大規(guī)模復(fù)雜系統(tǒng)的開(kāi)放式軟件架構(gòu)研究[J]. 尹偉,繆萬(wàn)勝,王念偉,洪沛. 航空電子技術(shù). 2017(02)
[8]基于Qt和Flash的嵌入式Linux軟件架構(gòu)設(shè)計(jì)[J]. 王曉燕,劉軍霞,楊先文. 現(xiàn)代電子技術(shù). 2017(01)
[9]集成電路測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用研究[J]. 劉煒. 通訊世界. 2015(16)
[10]ATE軟件系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)[J]. 段紅義. 計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制. 2015(02)
碩士論文
[1]信息化體系結(jié)構(gòu)ATE軟件平臺(tái)開(kāi)發(fā)[D]. 崔翹楚.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2015
[2]基于冗余共享的嵌入式SRAM的內(nèi)建自測(cè)試修復(fù)及失效分析[D]. 龐理.西安電子科技大學(xué) 2015
[3]高精度多通道逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器測(cè)試與修調(diào)[D]. 李濤.電子科技大學(xué) 2014
[4]基于ATE的百萬(wàn)門(mén)級(jí)FPGA測(cè)試方法的研究[D]. 王世穎.電子科技大學(xué) 2012
[5]數(shù)字IC測(cè)試儀的研究與設(shè)計(jì)[D]. 仲偉楊.南京理工大學(xué) 2012
[6]數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)[D]. 溫曉佩.電子科技大學(xué) 2011
[7]數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試硬件技術(shù)研究[D]. 陳明亮.電子科技大學(xué) 2010
[8]ATE軟件測(cè)試方法研究及實(shí)現(xiàn)[D]. 伍利.電子科技大學(xué) 2004
本文編號(hào):2925882
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