【摘要】：隨著超大規(guī)模集成電路的不斷發(fā)展,芯片的規(guī)模變大,結(jié)構(gòu)變得更加復(fù)雜,對芯片進(jìn)行測試時所需的測試數(shù)據(jù)量在不斷增加,使得測試時芯片的測試成本不斷提高。同時測試時的功耗也在不斷提高,對芯片結(jié)構(gòu)產(chǎn)生不良影響,造成芯片的良品率降低。針對集成電路的發(fā)展過程中測試數(shù)據(jù)量增加和測試功耗提升的問題,本文利用三態(tài)信號的特性對這些問題進(jìn)行研究,所做的主要工作如下:提出了一種基于三態(tài)信號的測試數(shù)據(jù)相容壓縮方法。該方法首先對測試集進(jìn)行優(yōu)化預(yù)處理操作,主要是對測試集進(jìn)行部分輸入精簡、測試向量重排序操作和測試向量相鄰填充,使得測試集中無關(guān)位X的比例和各測試向量之間的相容性得到了提高;隨后,對進(jìn)行過預(yù)處理后的測試集進(jìn)行三態(tài)信號編碼壓縮,將測試集劃分為多個掃描切片并對掃描切片進(jìn)行相容編碼壓縮。實驗結(jié)果表明,提出的方案取得了較好的壓縮率,平均測試壓縮率可達(dá)到76.17%,同時測試功耗和面積開銷也沒有明顯提升。提出了一種基于三態(tài)信號控制的廣播掃描測試數(shù)據(jù)壓縮方法。該方法將測試集中的測試向量劃分為組,對于每個分組可以進(jìn)行廣播掃描輸入;隨后對每個分組內(nèi)部進(jìn)行掃描切片劃分,將掃描切片劃分為對應(yīng)三態(tài)信號的三種類型;然后對測試向量分組進(jìn)行捕獲功耗優(yōu)化,針對非稀疏掃描切片進(jìn)行測試響應(yīng)的填充;最后根據(jù)三態(tài)信號計算分組內(nèi)部各掃描切片的編碼,非稀疏掃描切片使用廣播掃描輸入,稀疏掃描切片使用LFSR重播種進(jìn)行壓縮。實驗結(jié)果表明,該方法可以取得良好的壓縮率,同時針對測試功耗做出了一定的優(yōu)化。
【學(xué)位授予單位】：合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2019
【分類號】：TN407

【參考文獻(xiàn)】

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2 方芳;王偉;王杰;陳田;楊年宏;;低功耗測試研究進(jìn)展[J];合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版);2009年06期

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1 沈丹丹;基于廣播掃描的低功耗測試壓縮方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2017年

2 鄭瀏e，

本文編號：2644409