【摘要】：因PCB上微帶線(MSL)與外界電磁能量耦合而生成感應電流(Current),會對敏感器件造成耦合傷害。而目前對此研究的關注度不夠,故以帶拐角MSL的PCB板內置于開孔屏蔽腔為研究對象,以Current計算為主要切入點,進行多參數(shù)耦合特性計算。先建立相應數(shù)值模型并驗證建模方法有效性后,外置平面波激勵源,利用有限元法考察不同計算位置、有無屏蔽腔、MSL夾角大小及拐角補償?shù)葏?shù)變化對電流的影響。結果表明:直MSL上不同計算位置對Current影響不大,其數(shù)值都要比MSL彎折時要大,兩者差值隨頻率增加而逐漸減小;諧振點處腔體抑制效果會被弱化甚至完全失效;MSL與電場E平行放置時,跡線需布成短線,MSL與電場E垂直放置時,跡線可布成長線;MSL寬度增加,電流數(shù)值會增加但趨勢減緩。拐角補償方法對提高信號完整性(SI)有效,但對降低電磁耦合作用有限。不會影響諧振點出現(xiàn)位置是上述多參數(shù)研究的共性結果。
[Abstract]:The inductive current (Current),) generated by the coupling of microstrip line (MSL) and external electromagnetic energy on PCB will cause coupling injury to sensitive devices. At present, the focus of this research is not enough, so the PCB board with corner MSL is taken as the research object, and the Current calculation is the main entry point to calculate the multi-parameter coupling characteristics. After establishing the corresponding numerical model and verifying the validity of the modeling method, the external plane wave excitation source is established and the influence of the parameters such as the angle of MSL and the corner compensation on the current is investigated by using the finite element method. The results show that the calculated positions on the straight MSL have little effect on the Current, and the difference between them decreases with the increase of the frequency, and the difference is larger than that of the MSL bending. The suppression effect of cavity at the resonance point will be weakened or even completely invalidated when the MSL is placed parallel to the electric field E. when the trace line needs to be placed in a short line and the electric field E is placed vertically, the width of the trace line can be increased and the current value will increase, but the trend will slow down. Corner compensation is effective in improving signal integrity (SI), but limited in reducing electromagnetic coupling. It is the common result of the multi-parameter study that the resonance point will not be affected.
【作者單位】： 浙江工業(yè)職業(yè)技術學院電氣電子工程分院;中國科學院長春光學精密機械與物理研究所應用光學國家重點實驗室;
【基金】：中國科學院預研基金(61501.02.03.04)
【分類號】：TN41

【參考文獻】

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【共引文獻】

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本文編號：2194507