本文選題：品質(zhì)因數(shù)　切入點：時域測量　出處：《西安電子科技大學學報》2017年02期

【摘要】：基于品質(zhì)因數(shù)的時域測量方法,提出了一種新的可以片上集成的品質(zhì)因數(shù)測量電路,不僅在特定頻率能實現(xiàn)品質(zhì)因數(shù)的精確測量,還可在保持電路精度的前提下,覆蓋一定待測信號的頻帶.在采用之前提出的可重構電路的基礎上,改進了峰值探測器的補償方式,進行了系統(tǒng)精度和擴頻所需的理論分析,有效指導了電路的設計.另外,數(shù)字控制邏輯的改進,將總功耗降低7.5%.并通過集成電路的方式在0.35μm CMOS工藝下實現(xiàn)此電路,在電源電壓為5V,輸入信號頻率為1MHz的條件下,實現(xiàn)品質(zhì)因數(shù)的相對誤差小于±0.2%,并且在精度不變的情況下,將待測信號的頻段擴展到100kHz~1.5MHz.
[Abstract]:Based on the time domain measurement method of quality factor, a new quality factor measuring circuit which can be integrated on a chip is proposed. It can not only realize the accurate measurement of quality factor at specific frequency, but also maintain the accuracy of the circuit.The frequency band that covers a certain signal to be tested.On the basis of the reconfigurable circuit proposed before, the compensation method of peak detector is improved, and the theoretical analysis of system precision and spread spectrum is carried out, which effectively guides the design of the circuit.In addition, the improvement of digital control logic reduces the total power consumption by 7.5.The circuit is realized by integrated circuit in 0.35 渭 m CMOS process. Under the condition that the power supply voltage is 5 V and the input signal frequency is 1MHz, the relative error of the quality factor is less than 鹵0.2 and the precision is constant.The frequency band of the signal to be tested is extended to 100 kHz and 1.5 MHz.
【作者單位】： 西安電子科技大學微電子學院;基礎電子研究所巴黎第十一大學巴黎薩克雷大學;
【分類號】：TN432

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本文編號：1713760