新形勢(shì)下電子測(cè)試技術(shù)需求新趨勢(shì)探究
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【摘要】:本研究通過(guò)分析探討電子測(cè)試技術(shù)在市場(chǎng)發(fā)展中的幾個(gè)方面的新需求及發(fā)展的方向趨勢(shì),并結(jié)合市場(chǎng)現(xiàn)狀提出了電子檢測(cè)技術(shù)面臨的機(jī)遇和挑戰(zhàn)。
【作者單位】: 商丘醫(yī)學(xué)高等專科學(xué)校;
【分類號(hào)】:TN06
【正文快照】: 0前言電子測(cè)試技術(shù)隨著計(jì)算機(jī)和軟件技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步而不斷發(fā)展。目前的電子測(cè)試技術(shù)已經(jīng)在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)制造中廣泛利用,在電子產(chǎn)品應(yīng)用的各個(gè)角度都離不開(kāi)電子測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。另外電子產(chǎn)品的多樣化發(fā)展也使得對(duì)測(cè)試技術(shù)的要求更加提高,測(cè)試技術(shù)的水平對(duì)電子產(chǎn)品市場(chǎng)的發(fā)展
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):1232426
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