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觸發(fā)器可靠度計算的F-PTM方法

發(fā)布時間:2017-10-28 12:25

  本文關鍵詞:觸發(fā)器可靠度計算的F-PTM方法


  更多相關文章: 軟錯誤 觸發(fā)器 可靠度評估 概率轉移矩陣 半張量積


【摘要】:傳統(tǒng)的概率轉移矩陣(PTM)方法是一種用于估計軟錯誤對組合電路可靠度影響的有效方法,但傳統(tǒng)PTM方法只適用于組合邏輯電路的可靠度評估.觸發(fā)器是時序邏輯電路的重要組成部分,其可靠度評估對時序電路的可靠度分析研究至關重要.為此,本文提出了基于PTM的觸發(fā)器可靠度計算的F-PTM方法及電路PTM的判定定理.F-PTM方法首先建立觸發(fā)器電路的特征方程,再用電路PTM的判定定理生成觸發(fā)器的PTM,最后,根據輸入信號的概率分布函數計算出電路的可靠度.與傳統(tǒng)PTM方法相比較,F-PTM方法既能計算組合電路的PTM,又能計算觸發(fā)器電路的PTM,其通用性強.對典型的觸發(fā)器電路和74X系列電路中的觸發(fā)器電路的實驗結果表明,F-PTM方法合理可行.與多階段方法和Monte Carlo方法的實驗結果相比較,F-PTM方法得到的結果更精確.
【作者單位】: 同濟大學軟件學院;江西理工大學信息工程學院;
【關鍵詞】軟錯誤 觸發(fā)器 可靠度評估 概率轉移矩陣 半張量積
【基金】:國家自然科學基金(No.61561024;No.61432017;No.61462034) 江西省教育廳項目(No.GJJ14429) 江西省自然科學項目(No.20151BAB207035)
【分類號】:TN783
【正文快照】: 1引言隨著深亞微米、納米工藝在超大規(guī)模集成電路中的應用,高層次電路的可靠性評估日益成為人們關注的焦點[1~5].近年來提出的時序電路高層可靠性評估方法,主要分為兩類:1評估時序電路的軟錯誤率:基于符號模型的時序電路可靠性分析方法用于估計時序電路的軟錯誤率[6,7];時序電

本文編號:1108251

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