變流器中功率開關(guān)器件結(jié)溫平滑研究
發(fā)布時間:2020-06-04 02:40
【摘要】:隨著電力電子技術(shù)應(yīng)用的逐漸發(fā)展,電動汽車、新能源發(fā)電等場合中變流器的使用越來越廣泛,因此變流器可靠性問題也顯得更加重要。功率開關(guān)器件是影響變流器可靠性最主要因素,IGBT作為使用最廣泛的功率開關(guān)器件之一,當(dāng)其處理功率反復(fù)波動時會對其本身產(chǎn)生不均勻的熱應(yīng)力沖擊,加快其老化失效,降低變流器可靠性。平滑因功率變化產(chǎn)生的結(jié)溫波動是降低IGBT熱應(yīng)力沖擊,提高變流器使用壽命的有效方法。本文以降低變流器中IGBT低頻結(jié)溫波動為目的,主要完成工作如下:首先設(shè)計搭建了三相逆變器的實驗平臺,完成實驗平臺軟硬件的實現(xiàn),并建立了不同調(diào)制函數(shù)下IGBT的損耗模型,分析不同因素對IGBT模塊損耗的影響。為后面部分的分析和實驗提供工具。其次按照傳統(tǒng)的開關(guān)頻率調(diào)節(jié)結(jié)溫波動方法,利用IGBT損耗模型和熱網(wǎng)絡(luò)模型對其結(jié)溫進行估算,將估算結(jié)果作為IGBT開關(guān)頻率調(diào)節(jié)的參考以降低低頻結(jié)溫的波動。針對這種方法對損耗和熱網(wǎng)絡(luò)模型依賴性強的不足,提出一種通過采樣IGBT殼溫并比較殼溫差值的方法來調(diào)節(jié)開關(guān)頻率,利用IGBT穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)熱網(wǎng)絡(luò)模型分析了該方法的可行性和適用范圍,并介紹其在變流器中應(yīng)用時的控制方法。最后針對開關(guān)頻率調(diào)節(jié)的缺點,再提出一種利用調(diào)節(jié)緩沖電路參數(shù)去改變IGBT關(guān)斷損耗從而進行低頻結(jié)溫平滑的方法,該方法避免了開關(guān)頻率調(diào)節(jié)時對系統(tǒng)運行狀態(tài)的影響且適用于關(guān)斷損耗占比較高的場合,并計算了該方法的可調(diào)節(jié)范圍。實驗驗證了通過估算IGBT結(jié)溫控制開關(guān)頻率和通過改變緩沖電路參數(shù)等方法去降低低頻結(jié)溫波動幅值的有效性,實驗結(jié)果顯示調(diào)節(jié)前后IGBT結(jié)溫波動明顯降低其使用壽命得到提升。對于殼溫比較控制的方案,仿真和實驗證明了在不需要損耗和熱網(wǎng)絡(luò)模型的條件下,通過采樣IGBT殼溫大小可以確定不同功率下開關(guān)頻率變化幅值。
【圖文】:
件開關(guān)頻率低,驅(qū)動要求高的缺點,而且在,IGBT 被廣泛的運用在高功率變流器系統(tǒng)由于使用時因為過壓過流導(dǎo)致的破壞性損。使用時選擇 IGBT 型號應(yīng)留有適當(dāng)裕量可 IGBT 模塊結(jié)構(gòu)和材料相關(guān)很難避免。文獻(xiàn)統(tǒng)計歸納得到其老化壽命模型: 失效前循環(huán)次數(shù),k 為玻耳茲曼常量(8.17.8×104),ΔTj和 Tm分別表示結(jié)溫波動大),A 和 n 是擬合系數(shù)(A=640,n=5)。知道,IGBT 工作時的平均結(jié)溫 Tm和結(jié)溫波因。歐洲 LESIT 項目對不同型號 IGBT 進行似,如圖 1.3 所示。IGBT 結(jié)溫波動減小 2環(huán)次數(shù)增加,說明結(jié)溫波動對 IGBT 壽命影/( )f j( )mnE kTN A T e
精度高 侵入式測量影響模塊精度較高、非侵入式 測量設(shè)備精度要求高、非侵入式 存在一定誤差圖 1.5 IGBT 結(jié)溫估算Fig 1.5 IGBT junction temperature estimation模型IGBT損耗模型IGBT熱網(wǎng)絡(luò)模型UDCIofwPconPswUCEOSV/SPRTEonEoffR1~R4C1~C4TcTj
【學(xué)位授予單位】:重慶大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TM46
本文編號:2695766
【圖文】:
件開關(guān)頻率低,驅(qū)動要求高的缺點,而且在,IGBT 被廣泛的運用在高功率變流器系統(tǒng)由于使用時因為過壓過流導(dǎo)致的破壞性損。使用時選擇 IGBT 型號應(yīng)留有適當(dāng)裕量可 IGBT 模塊結(jié)構(gòu)和材料相關(guān)很難避免。文獻(xiàn)統(tǒng)計歸納得到其老化壽命模型: 失效前循環(huán)次數(shù),k 為玻耳茲曼常量(8.17.8×104),ΔTj和 Tm分別表示結(jié)溫波動大),A 和 n 是擬合系數(shù)(A=640,n=5)。知道,IGBT 工作時的平均結(jié)溫 Tm和結(jié)溫波因。歐洲 LESIT 項目對不同型號 IGBT 進行似,如圖 1.3 所示。IGBT 結(jié)溫波動減小 2環(huán)次數(shù)增加,說明結(jié)溫波動對 IGBT 壽命影/( )f j( )mnE kTN A T e
精度高 侵入式測量影響模塊精度較高、非侵入式 測量設(shè)備精度要求高、非侵入式 存在一定誤差圖 1.5 IGBT 結(jié)溫估算Fig 1.5 IGBT junction temperature estimation模型IGBT損耗模型IGBT熱網(wǎng)絡(luò)模型UDCIofwPconPswUCEOSV/SPRTEonEoffR1~R4C1~C4TcTj
【學(xué)位授予單位】:重慶大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TM46
【參考文獻(xiàn)】
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,本文編號:2695766
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