【摘要】：根據(jù)不同電流模式下金屬-半導(dǎo)體界面的接觸電阻表達(dá)式,結(jié)合端電阻,推導(dǎo)出不同接觸電阻之間的關(guān)系式,進(jìn)一步提出等間距傳輸線模型(以下簡(jiǎn)稱SSTLM)的接觸電阻測(cè)試法。該模型測(cè)量方便、計(jì)算精確,適用于等間距平行電極之間接觸電阻的測(cè)量,特別適用于晶體硅太陽(yáng)電池串聯(lián)電阻的測(cè)試與分析。
[Abstract]:According to the contact resistance expression of metal-semiconductor interface under different current modes and combining with terminal resistance, the relationship between different contact resistances is derived, and the method of measuring contact resistance of equal-spacing transmission line model (SSTLM) is put forward. The model is suitable for measuring the contact resistance between parallel electrodes, especially for the measurement and analysis of the series resistance of crystalline silicon solar cells.
【作者單位】： 上海交通大學(xué)理學(xué)院;寧波尤利卡太陽(yáng)能科技發(fā)展有限公司;
【分類號(hào)】：TM934.1

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2335024